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一种基于深度学习算法的CMOS的缺陷检测方法
被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN202410166424.9
申请日：
2024-02-06
公开(公告)号：
CN117710377A
公开(公告)日：
2024-03-15
发明(设计)人：
李彦庆
余毅
郭同健
何锋赟
刘卫佳
申请人：
中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
申请人地址：
130033 吉林省长春市经济技术开发区东南湖大路3888号
IPC主分类号：
G06T7/00
IPC分类号：
G06N3/045
G06N3/0464
G06N3/08
G06T3/4038
G06T5/90
G06T5/40
G06T5/50
G01N21/88
代理机构：
长春中科长光知识产权代理事务所(普通合伙) 22218
代理人：
孙艳辉
法律状态：
实质审查的生效
国省代码：
北京市
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法律状态
| 法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
| 2024-04-02 | 实质审查的生效 | 实质审查的生效IPC(主分类):G06T 7/00申请日:20240206 |
| 2024-05-24 | 授权 | 授权 |
| 2024-03-15 | 公开 | 公开 |