一种基于深度学习的颗粒产品缺陷检测方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201810004284.X

申请日：

2018-01-03

公开(公告)号：

CN108229561B

公开(公告)日：

2018-06-29

发明(设计)人：

刘雄飞田立勋肖腾李翠君肖男马腾丛琳

申请人：

申请人地址：

100094 北京市海淀区西北旺东路10号院东区5号楼5层505号

IPC主分类号：

G06K962

IPC分类号：

G06V10764 G06V10774 G06V1082 G06V1044 G06N304

代理机构：

北京律谱知识产权代理有限公司 11457

代理人：

罗建书

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2018-07-24	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G06K 9/62 申请日:20180103
2018-06-29	公开	公开
2022-05-13	授权	授权

共 50 条

[1]

一种基于深度学习的结构缺陷检测方法 [P].

高峰利 ;

王怀喜 ;

李绍 ;

林锥 .

中国专利 :CN115423741A ,2022-12-02

[2]

一种基于深度学习算法的CMOS的缺陷检测方法 [P].

李彦庆 ;

余毅 ;

郭同健 ;

何锋赟 ;

刘卫佳 .

中国专利 :CN117710377A ,2024-03-15

[3]

一种基于深度学习算法的CMOS的缺陷检测方法 [P].

李彦庆 ;

余毅 ;

郭同健 ;

何锋赟 ;

刘卫佳 .

中国专利 :CN117710377B ,2024-05-24

[4]

基于深度学习的涂布缺陷检测方法 [P].

卢岩 .

中国专利 :CN112150417A ,2020-12-29

[5]

一种基于深度学习的传送带缺陷检测方法 [P].

李海滨 ;

陈明宇 ;

张岩松 .

中国专利 :CN113658136A ,2021-11-16

[6]

一种基于深度学习的工业产品缺陷检测方法 [P].

邹腊梅 ;

车鑫 ;

俞天敏 ;

聂士伟 ;

张松伟 ;

钟胜 ;

熊紫华 ;

李晓光 ;

李长峰 .

中国专利 :CN110570396A ,2019-12-13

[7]

一种基于深度学习算法的材料微观结构缺陷检测方法 [P].

周青华 ;

杨万友 ;

王家序 ;

黄彦彦 ;

杨勇 ;

祝晋旋 ;

马力 ;

周广武 ;

蒲伟 .

中国专利 :CN109655483B ,2019-04-19

[8]

一种基于深度学习的工件表面缺陷检测方法及系统 [P].

韩小平 ;

王立华 ;

闫云昊 ;

窦永旺 ;

赫金娜 ;

杨朋达 .

中国专利 :CN114881998A ,2022-08-09

[9]

一种基于深度学习的缺陷检测方法 [P].

尹仕斌 ;

郭寅 ;

郭磊 ;

孙文毅 ;

赵进 .

中国专利 :CN117808776A ,2024-04-02

[10]

基于深度学习算法的表面缺陷检测方法 [P].

董航程 ;

刘国栋 ;

刘炳国 ;

高卓 ;

黄颖妍 ;

廖敬骁 .

中国专利 :CN115205275B ,2025-05-23

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