共 50 条
[1]
[2]
[3]
[4]
[5]
[6]
[7]
[8]
[9]
[10]
一种微型激光芯片老化测试系统
被引：0
专利类型：
实用新型
申请号：
CN202021232990.9
申请日：
2020-06-30
公开(公告)号：
CN212433335U
公开(公告)日：
2021-01-29
发明(设计)人：
林辉
申请人：
申请人地址：
436070 湖北省鄂州市葛店开发区创业大道40号
IPC主分类号：
G01R3128
IPC分类号：
代理机构：
北京科亿知识产权代理事务所(普通合伙) 11350
代理人：
傅海鹏
法律状态：
授权
国省代码：
引用
下载
收藏
法律状态
| 法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
| 2021-01-29 | 授权 | 授权 |