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一种微型激光芯片老化测试系统
被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN202010608455.7
申请日：
2020-06-30
公开(公告)号：
CN113866585A
公开(公告)日：
2021-12-31
发明(设计)人：
林辉
申请人：
申请人地址：
436070 湖北省鄂州市葛店开发区创业大道40号
IPC主分类号：
G01R3128
IPC分类号：
代理机构：
北京科亿知识产权代理事务所(普通合伙) 11350
代理人：
傅海鹏
法律状态：
实质审查的生效
国省代码：
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法律状态
| 法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
| 2022-01-21 | 实质审查的生效 | 实质审查的生效 IPC(主分类):G01R 31/28 申请日:20200630 |
| 2021-12-31 | 公开 | 公开 |