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激光芯片老化测试系统及方法

被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN202010805054.0
申请日：
2020-08-12
公开(公告)号：
CN114079221B
公开(公告)日：
2024-05-14
发明(设计)人：
安海岩 王威 徐豪
申请人：
武汉锐晶激光芯片技术有限公司
申请人地址：
430000 湖北省武汉市未来科技城A5北C1栋902室
IPC主分类号：
H01S5/00
IPC分类号：
代理机构：
北京众达德权知识产权代理有限公司 11570
代理人：
李娇
法律状态：
授权
国省代码：
河北省 石家庄市
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法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2024-05-14 授权 授权
共 50 条
[1]
激光芯片老化测试系统及方法 [P]. 
安海岩 ;
王威 ;
徐豪 .
中国专利 :CN114079221A ,2022-02-22
[2]
激光芯片老化测试系统 [P]. 
安海岩 ;
王威 ;
徐豪 .
中国专利 :CN212567879U ,2021-02-19
[3]
芯片老化测试系统及老化测试方法 [P]. 
朱兵兵 ;
郭磊 ;
董国庆 ;
文国昇 ;
金从龙 .
中国专利 :CN120703553A ,2025-09-26
[4]
老化板及芯片老化测试系统 [P]. 
王祺 ;
曹巍 .
中国专利 :CN218445837U ,2023-02-03
[5]
一种微型激光芯片老化测试系统 [P]. 
林辉 .
中国专利 :CN113866585A ,2021-12-31
[6]
一种微型激光芯片老化测试系统 [P]. 
林辉 .
中国专利 :CN212433335U ,2021-01-29
[7]
芯片老化测试系统、方法及装置 [P]. 
不公告发明人 .
中国专利 :CN110716126A ,2020-01-21
[8]
一种芯片老化测试系统及方法 [P]. 
冯建超 ;
傅焰峰 ;
严杰 .
中国专利 :CN112834904B ,2024-10-11
[9]
一种芯片老化测试系统及方法 [P]. 
冯建超 ;
傅焰峰 ;
严杰 .
中国专利 :CN112834904A ,2021-05-25
[10]
芯片老化测试电路和芯片老化测试系统 [P]. 
孙成思 ;
孙日欣 ;
刘冲 .
中国专利 :CN113064052B ,2025-02-11
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