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光学邻近修正的方法
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN201110109857.3
申请日
:
2011-04-28
公开(公告)号
:
CN102759862A
公开(公告)日
:
2012-10-31
发明(设计)人
:
杨青
刘娟
申请人
:
申请人地址
:
201203 上海市浦东新区张江路18号
IPC主分类号
:
G03F720
IPC分类号
:
代理机构
:
北京集佳知识产权代理有限公司 11227
代理人
:
骆苏华
法律状态
:
公开
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2012-10-31
公开
公开
2014-07-30
授权
授权
2012-12-26
实质审查的生效
实质审查的生效 号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101370319114 IPC(主分类):G03F 7/20 专利申请号:2011101098573 申请日:20110428
共 50 条
[1]
光学邻近修正方法
[P].
从传飞
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
长鑫存储技术有限公司
长鑫存储技术有限公司
从传飞
.
中国专利
:CN118884774A
,2024-11-01
[2]
光学邻近修正方法
[P].
王辉
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
王辉
.
中国专利
:CN104570585B
,2015-04-29
[3]
光学邻近修正方法
[P].
王铁柱
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
王铁柱
.
中国专利
:CN104749899B
,2015-07-01
[4]
光学邻近修正中的关键尺寸偏差修正方法
[P].
姜长城
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
中芯国际集成电路制造(上海)有限公司
中芯国际集成电路制造(上海)有限公司
姜长城
;
王兴荣
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
中芯国际集成电路制造(上海)有限公司
中芯国际集成电路制造(上海)有限公司
王兴荣
;
张海洋
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
中芯国际集成电路制造(上海)有限公司
中芯国际集成电路制造(上海)有限公司
张海洋
.
中国专利
:CN117826522A
,2024-04-05
[5]
改进光学邻近修正模型的方法和制造半导体装置的方法
[P].
郑文奎
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
郑文奎
.
中国专利
:CN109216348A
,2019-01-15
[6]
光学邻近修正方法及其修正装置、可读存储介质
[P].
徐世斌
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
浙江创芯集成电路有限公司
浙江创芯集成电路有限公司
徐世斌
;
高大为
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
浙江创芯集成电路有限公司
浙江创芯集成电路有限公司
高大为
;
吴永玉
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
浙江创芯集成电路有限公司
浙江创芯集成电路有限公司
吴永玉
;
任堃
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
浙江创芯集成电路有限公司
浙江创芯集成电路有限公司
任堃
;
鲁苗苗
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
浙江创芯集成电路有限公司
浙江创芯集成电路有限公司
鲁苗苗
;
颜哲钜
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
浙江创芯集成电路有限公司
浙江创芯集成电路有限公司
颜哲钜
;
姚淼红
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
浙江创芯集成电路有限公司
浙江创芯集成电路有限公司
姚淼红
;
张馨元
论文数:
0
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0
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0
机构:
浙江创芯集成电路有限公司
浙江创芯集成电路有限公司
张馨元
;
李翰轩
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
浙江创芯集成电路有限公司
浙江创芯集成电路有限公司
李翰轩
.
中国专利
:CN119668018A
,2025-03-21
[7]
光学邻近修正方法、连接孔的制作方法
[P].
张婉娟
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
张婉娟
;
林益世
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
林益世
.
中国专利
:CN103186033A
,2013-07-03
[8]
光学邻近校正的方法
[P].
刘庆炜
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
刘庆炜
.
中国专利
:CN101359178A
,2009-02-04
[9]
光学邻近修正模型校准方法、存储介质及终端
[P].
胡月
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
中芯国际集成电路制造(上海)有限公司
中芯国际集成电路制造(上海)有限公司
胡月
;
王健
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
中芯国际集成电路制造(上海)有限公司
中芯国际集成电路制造(上海)有限公司
王健
;
王良
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
中芯国际集成电路制造(上海)有限公司
中芯国际集成电路制造(上海)有限公司
王良
.
中国专利
:CN121091592A
,2025-12-09
[10]
显影后量测方法、光学邻近修正模型优化方法
[P].
牟芝平
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
浙江创芯集成电路有限公司
浙江创芯集成电路有限公司
牟芝平
;
任堃
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
浙江创芯集成电路有限公司
浙江创芯集成电路有限公司
任堃
;
高大为
论文数:
0
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0
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0
机构:
浙江创芯集成电路有限公司
浙江创芯集成电路有限公司
高大为
;
吴永玉
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
浙江创芯集成电路有限公司
浙江创芯集成电路有限公司
吴永玉
.
中国专利
:CN118276415A
,2024-07-02
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