用于半导体封装结构的检测系统

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申请号
CN202220284725.8
申请日
2022-02-11
公开(公告)号
CN217359656U
公开(公告)日
2022-09-02
发明(设计)人
李诗婷 张桂铭 刘记纲 汪立庭
申请人
申请人地址
中国台湾高雄市
IPC主分类号
G01N2195
IPC分类号
代理机构
北京德恒律治知识产权代理有限公司 11409
代理人
章社杲;李伟
法律状态
授权
国省代码
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共 50 条
[1]
半导体封装结构 [P]. 
邓登峰 .
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柯武生 .
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[4]
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