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晶圆片背面视觉检测结构、检测方法和相关设备
被引:0
申请号
:
CN202210404322.7
申请日
:
2022-04-18
公开(公告)号
:
CN114758969A
公开(公告)日
:
2022-07-15
发明(设计)人
:
肖上
申请人
:
申请人地址
:
214000 江苏省无锡市滨湖区金融二街8号18楼
IPC主分类号
:
H01L2167
IPC分类号
:
H01L2168
H01L21683
代理机构
:
无锡智麦知识产权代理事务所(普通合伙) 32492
代理人
:
陆晔
法律状态
:
公开
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2022-07-15
公开
公开
2022-08-02
实质审查的生效
实质审查的生效 IPC(主分类):H01L 21/67 申请日:20220418
共 50 条
[1]
一种晶圆片视觉检测设备及检测方法
[P].
吴明
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
浙江蓝特光学股份有限公司
浙江蓝特光学股份有限公司
吴明
;
陆建力
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
浙江蓝特光学股份有限公司
浙江蓝特光学股份有限公司
陆建力
.
中国专利
:CN118655153A
,2024-09-17
[2]
一种晶圆片视觉检测设备及检测方法
[P].
吴明
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
浙江蓝特光学股份有限公司
浙江蓝特光学股份有限公司
吴明
;
陆建力
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
浙江蓝特光学股份有限公司
浙江蓝特光学股份有限公司
陆建力
.
中国专利
:CN118655153B
,2025-01-21
[3]
晶圆检测装置及晶圆片检测方法
[P].
陈蕖
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
上海至纯洁净系统科技股份有限公司
上海至纯洁净系统科技股份有限公司
陈蕖
;
徐铭
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
上海至纯洁净系统科技股份有限公司
上海至纯洁净系统科技股份有限公司
徐铭
;
屠国强
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
上海至纯洁净系统科技股份有限公司
上海至纯洁净系统科技股份有限公司
屠国强
;
陈新来
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
上海至纯洁净系统科技股份有限公司
上海至纯洁净系统科技股份有限公司
陈新来
;
沈一林
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
上海至纯洁净系统科技股份有限公司
上海至纯洁净系统科技股份有限公司
沈一林
.
中国专利
:CN118800678A
,2024-10-18
[4]
晶圆片位置检测装置及检测方法
[P].
杨帆
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
杨帆
.
中国专利
:CN114334691A
,2022-04-12
[5]
晶圆背面的检测方法、设备和存储介质
[P].
王蓓蕾
论文数:
0
引用数:
0
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0
王蓓蕾
;
蒋慧超
论文数:
0
引用数:
0
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0
蒋慧超
.
中国专利
:CN111815565A
,2020-10-23
[6]
晶圆背面的检测方法、设备和存储介质
[P].
王蓓蕾
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
上海华虹宏力半导体制造有限公司
上海华虹宏力半导体制造有限公司
王蓓蕾
;
蒋慧超
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
上海华虹宏力半导体制造有限公司
上海华虹宏力半导体制造有限公司
蒋慧超
.
中国专利
:CN111815565B
,2024-06-18
[7]
晶圆视觉检测方法、检测系统、检测晶圆损坏的方法
[P].
左国军
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
创微微电子(常州)有限公司
创微微电子(常州)有限公司
左国军
;
任金枝
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
创微微电子(常州)有限公司
创微微电子(常州)有限公司
任金枝
;
范生刚
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
创微微电子(常州)有限公司
创微微电子(常州)有限公司
范生刚
;
马冠男
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
创微微电子(常州)有限公司
创微微电子(常州)有限公司
马冠男
.
中国专利
:CN113161254B
,2024-01-30
[8]
晶圆视觉检测方法、检测系统、检测晶圆损坏的方法
[P].
左国军
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
左国军
;
任金枝
论文数:
0
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0
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0
任金枝
;
范生刚
论文数:
0
引用数:
0
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0
范生刚
;
马冠男
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
马冠男
.
中国专利
:CN113161254A
,2021-07-23
[9]
晶圆检测设备及晶圆检测方法
[P].
胡俊林
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
柯尔微电子装备(厦门)有限公司
柯尔微电子装备(厦门)有限公司
胡俊林
;
郑隆结
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
柯尔微电子装备(厦门)有限公司
柯尔微电子装备(厦门)有限公司
郑隆结
;
孙会民
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
柯尔微电子装备(厦门)有限公司
柯尔微电子装备(厦门)有限公司
孙会民
.
中国专利
:CN120314331B
,2025-08-15
[10]
晶圆检测设备及晶圆检测方法
[P].
胡俊林
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
柯尔微电子装备(厦门)有限公司
柯尔微电子装备(厦门)有限公司
胡俊林
;
郑隆结
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
柯尔微电子装备(厦门)有限公司
柯尔微电子装备(厦门)有限公司
郑隆结
;
孙会民
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
柯尔微电子装备(厦门)有限公司
柯尔微电子装备(厦门)有限公司
孙会民
.
中国专利
:CN120314331A
,2025-07-15
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