测试半导体器件的探针卡及半导体器件测试方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN99124343.9

申请日：

1999-11-24

公开(公告)号：

CN1271178A

公开(公告)日：

2000-10-25

发明(设计)人：

丸山茂幸

申请人：

申请人地址：

日本神奈川

IPC主分类号：

H01L2166

IPC分类号：

代理机构：

中国国际贸易促进委员会专利商标事务所

代理人：

王永刚

法律状态：

实质审查请求的生效

国省代码：

引用

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共 50 条

[1]

半导体器件、半导体器件的测试方法和探针卡 [P].

内田练 ;

森雅美 .

中国专利 :CN101093244B ,2007-12-26

[2]

用于测试半导体器件的探针卡 [P].

金镇焕 ;

金赞模 .

韩国专利 :CN120044284A ,2025-05-27

[3]

用于测试半导体器件的探针卡 [P].

宋光锡 .

中国专利 :CN101346814A ,2009-01-14

[4]

半导体器件及半导体器件的测试方法 [P].

龟山祯史 ;

池田昌功 .

日本专利 :CN111380628B ,2024-06-07

[5]

半导体器件及半导体器件的测试方法 [P].

龟山祯史 ;

池田昌功 .

中国专利 :CN111380628A ,2020-07-07

[6]

检查半导体器件的方法、半导体器件和探针卡 [P].

谷村政明 .

日本专利 :CN117990230A ,2024-05-07

[7]

半导体器件测试方法 [P].

殷原梓 .

中国专利 :CN106206343A ,2016-12-07

[8]

半导体器件的测试及半导体器件制造方法 [P].

植田刚文 .

中国专利 :CN1157775C ,1999-11-03

[9]

半导体器件和测试半导体器件的方法 [P].

桥本洁和 ;

常定信利 .

中国专利 :CN101241751B ,2008-08-13

[10]

半导体器件、半导体器件的测试结构和测试方法 [P].

李珍铭 ;

李一权 ;

李埈宇 ;

郑相九 ;

朴敬美 ;

李仁爱 .

中国专利 :CN104576614A ,2015-04-29

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法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2000-05-10	实质审查请求的生效	实质审查请求的生效
2010-08-18	专利权人的姓名或者名称、地址的变更	专利权人的姓名或者名称、地址的变更号牌文件类型代码:1602 号牌文件序号:101004147500 IPC(主分类):H01L 21/66 专利号:ZL991243439 变更事项:专利权人变更前:富士通微电子株式会社变更后:富士通微电子株式会社变更事项:地址变更前:日本东京变更后:日本神奈川县
2015-06-17	专利申请权、专利权的转移	专利权的转移号牌文件类型代码:1602 号牌文件序号:101716438670 IPC(主分类):H01L 21/66 专利号:ZL991243439 变更事项:专利权人变更前权利人:富士通半导体股份有限公司变更后权利人:株式会社索思未来变更事项:地址变更前权利人:日本神奈川县变更后权利人:日本神奈川县登记生效日:20150526
2009-01-21	专利申请权、专利权的转移(专利权的转移)	专利申请权、专利权的转移(专利权的转移) 变更事项:专利权人变更前权利人:富士通株式会社变更后权利人:富士通微电子株式会社变更事项:地址变更前:日本神奈川变更后:日本东京登记生效日:20081219
2018-01-12	专利权的终止	未缴年费专利权终止 IPC(主分类):H01L 21/66 申请日:19991124 授权公告日:20050309 终止日期:20161124
2010-08-18	专利权人的姓名或者名称、地址的变更	专利权人的姓名或者名称、地址的变更号牌文件类型代码:1602 号牌文件序号:101004147501 IPC(主分类):H01L 21/66 专利号:ZL991243439 变更事项:专利权人变更前:富士通微电子株式会社变更后:富士通半导体股份有限公司变更事项:地址变更前:日本神奈川县变更后:日本神奈川县
2005-03-09	授权	授权
2000-10-25	公开	公开