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腔室晶圆位置检测装置及检测方法
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN201810140953.6
申请日
:
2018-02-11
公开(公告)号
:
CN110164787B
公开(公告)日
:
2019-08-23
发明(设计)人
:
朱磊
王佳
胡冬冬
陈璐
迈克尔·拜克拉诺夫
艾尔博·费尔
许开东
申请人
:
申请人地址
:
221300 江苏省徐州市邳州市经济开发区辽河西路8号
IPC主分类号
:
H01L2166
IPC分类号
:
H01L2167
代理机构
:
北京得信知识产权代理有限公司 11511
代理人
:
孟海娟
法律状态
:
授权
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2021-05-25
授权
授权
2019-09-17
实质审查的生效
实质审查的生效 IPC(主分类):H01L 21/66 申请日:20180211
2019-08-23
公开
公开
共 50 条
[1]
腔内晶圆位置检测装置及检测方法
[P].
王兆祥
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
上海谙邦半导体设备有限公司
上海谙邦半导体设备有限公司
王兆祥
;
吴磊
论文数:
0
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0
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机构:
上海谙邦半导体设备有限公司
上海谙邦半导体设备有限公司
吴磊
;
梁洁
论文数:
0
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0
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0
机构:
上海谙邦半导体设备有限公司
上海谙邦半导体设备有限公司
梁洁
;
涂乐义
论文数:
0
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0
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0
机构:
上海谙邦半导体设备有限公司
上海谙邦半导体设备有限公司
涂乐义
;
谭小龙
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
上海谙邦半导体设备有限公司
上海谙邦半导体设备有限公司
谭小龙
.
中国专利
:CN118173475A
,2024-06-11
[2]
晶圆位置检测装置和检测方法
[P].
王坚
论文数:
0
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0
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0
王坚
;
赵宇
论文数:
0
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赵宇
;
吴均
论文数:
0
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吴均
;
陈福发
论文数:
0
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0
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陈福发
;
王晖
论文数:
0
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0
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0
王晖
.
中国专利
:CN103515264A
,2014-01-15
[3]
晶圆位置检测装置、晶圆位置检测方法
[P].
袁林涛
论文数:
0
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0
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0
袁林涛
.
中国专利
:CN110729216A
,2020-01-24
[4]
晶圆位置检测装置及检测方法
[P].
王坚
论文数:
0
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0
王坚
;
何增华
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0
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何增华
;
贾照伟
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0
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贾照伟
;
王晖
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0
王晖
.
中国专利
:CN102867765A
,2013-01-09
[5]
晶圆片位置检测装置及检测方法
[P].
杨帆
论文数:
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0
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0
杨帆
.
中国专利
:CN114334691A
,2022-04-12
[6]
一种位置检测传感器、晶圆盒位置检测装置及方法
[P].
华小伟
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华小伟
;
王超
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王超
.
中国专利
:CN112378354B
,2021-02-19
[7]
晶圆的检测装置及晶圆的检测方法
[P].
苏旭文
论文数:
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0
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机构:
西安奕斯伟材料科技股份有限公司
西安奕斯伟材料科技股份有限公司
苏旭文
;
戎淇舰
论文数:
0
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机构:
西安奕斯伟材料科技股份有限公司
西安奕斯伟材料科技股份有限公司
戎淇舰
;
吕天爽
论文数:
0
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机构:
西安奕斯伟材料科技股份有限公司
西安奕斯伟材料科技股份有限公司
吕天爽
;
蒙亮亮
论文数:
0
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0
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0
机构:
西安奕斯伟材料科技股份有限公司
西安奕斯伟材料科技股份有限公司
蒙亮亮
.
中国专利
:CN120933184A
,2025-11-11
[8]
处理腔中晶圆位置检测装置及方法
[P].
周广伟
论文数:
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0
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0
周广伟
;
巴文林
论文数:
0
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0
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0
巴文林
.
中国专利
:CN102856229A
,2013-01-02
[9]
晶圆位置检测装置
[P].
王昕昀
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0
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王昕昀
;
孟杰
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0
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孟杰
;
薛波
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薛波
;
吴龙江
论文数:
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吴龙江
;
林宗贤
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林宗贤
.
中国专利
:CN208954953U
,2019-06-07
[10]
位置检测装置及位置检测方法
[P].
朝仓僚
论文数:
0
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机构:
株式会社和冠
株式会社和冠
朝仓僚
;
伊藤雅充
论文数:
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机构:
株式会社和冠
株式会社和冠
伊藤雅充
.
日本专利
:CN113168265B
,2024-07-19
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