一种集成电路测试数据记录方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202011272703.1

申请日：

2020-11-13

公开(公告)号：

CN112526317A

公开(公告)日：

2021-03-19

发明(设计)人：

邵嘉阳吴勇佳徐倩云王静崔孝叶

申请人：

申请人地址：

201203 上海市浦东新区中国（上海）自由贸易试验区郭守敬路351号2号楼1楼

IPC主分类号：

G01R3128

IPC分类号：

G06F30398

代理机构：

上海海贝律师事务所 31301

代理人：

宋振宇

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2021-04-06	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01R 31/28 申请日:20201113
2021-03-19	公开	公开

共 50 条

[1]

一种集成电路测试数据记录系统以及记录方法 [P].

姚佳琪 ;

唐皓 .

中国专利 :CN120745522A ,2025-10-03

[2]

一种集成电路测试数据融合分析方法 [P].

向彦瑾 .

中国专利 :CN110795481A ,2020-02-14

[3]

一种集成电路测试数据的处理方法 [P].

张小孟 ;

李鑫 ;

刘利新 ;

练滨浩 ;

姚全斌 .

中国专利 :CN103116617A ,2013-05-22

[4]

一种集成电路测试数据融合分析方法 [P].

罗斌 ;

刘远华 ;

余琨 ;

王玉龙 ;

王华 ;

牛勇 .

中国专利 :CN109447108A ,2019-03-08

[5]

面向集成电路测试的测试数据转换方法 [P].

刘炜 ;

郑忠林 ;

吉国凡 ;

张琳 ;

王慧 ;

金兰 ;

孙博 ;

石志刚 ;

赵智昊 ;

陈希 ;

孙杨 .

中国专利 :CN101364219A ,2009-02-11

[6]

集成电路测试数据融合分析系统 [P].

彭红方 ;

黄树春 .

中国专利 :CN217305414U ,2022-08-26

[7]

一种集成电路测试数据管理方法 [P].

邢广军 .

中国专利 :CN119645635A ,2025-03-18

[8]

一种集成电路测试数据查询系统 [P].

徐正元 .

中国专利 :CN203012716U ,2013-06-19

[9]

集成电路测试中的测试数据压缩方法 [P].

詹文法 ;

马俊 ;

石冰 ;

韩建华 ;

孙秀芳 .

中国专利 :CN101968528B ,2011-02-09

[10]

一种集成电路测试数据的筛选方法及装置 [P].

奚留华 .

中国专利 :CN108037433A ,2018-05-15

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