一种集成电路测试数据融合分析方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201811075157.5

申请日：

2018-09-14

公开(公告)号：

CN109447108A

公开(公告)日：

2019-03-08

发明(设计)人：

罗斌刘远华余琨王玉龙王华牛勇

申请人：

申请人地址：

201203 上海市浦东新区中国（上海）自由贸易试验区郭守敬路351号2号楼1楼

IPC主分类号：

G06K962

IPC分类号：

G01R3128

代理机构：

上海海贝律师事务所 31301

代理人：

范海燕

法律状态：

发明专利申请公布后的驳回

国省代码：

引用

下载

收藏

法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2022-12-02	发明专利申请公布后的驳回	发明专利申请公布后的驳回 IPC(主分类):G06K 9/62 申请公布日:20190308
2019-03-08	公开	公开
2019-04-02	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G06K 9/62 申请日:20180914

共 50 条

[1]

集成电路测试数据融合分析系统 [P].

彭红方 ;

黄树春 .

中国专利 :CN217305414U ,2022-08-26

[2]

一种集成电路测试数据融合分析方法 [P].

向彦瑾 .

中国专利 :CN110795481A ,2020-02-14

[3]

一种集成电路测试数据记录方法 [P].

邵嘉阳 ;

吴勇佳 ;

徐倩云 ;

王静 ;

崔孝叶 .

中国专利 :CN112526317A ,2021-03-19

[4]

一种集成电路测试数据分析方法及系统 [P].

苏广峰 ;

姜伟伟 .

中国专利 :CN112346920A ,2021-02-09

[5]

一种集成电路测试数据查询系统 [P].

徐正元 .

中国专利 :CN203012716U ,2013-06-19

[6]

一种集成电路测试数据的处理方法 [P].

张小孟 ;

李鑫 ;

刘利新 ;

练滨浩 ;

姚全斌 .

中国专利 :CN103116617A ,2013-05-22

[7]

一种集成电路可靠性测试数据分析方法 [P].

鹿靖 ;

江军 ;

季玉华 ;

高鹏 ;

郭梦洁 ;

焦涛 .

中国专利 :CN120064937A ,2025-05-30

[8]

面向集成电路测试的测试数据转换方法 [P].

刘炜 ;

郑忠林 ;

吉国凡 ;

张琳 ;

王慧 ;

金兰 ;

孙博 ;

石志刚 ;

赵智昊 ;

陈希 ;

孙杨 .

中国专利 :CN101364219A ,2009-02-11

[9]

一种集成电路测试数据管理方法 [P].

邢广军 .

中国专利 :CN119645635A ,2025-03-18

[10]

集成电路测试中的测试数据压缩方法 [P].

詹文法 ;

马俊 ;

石冰 ;

韩建华 ;

孙秀芳 .

中国专利 :CN101968528B ,2011-02-09

← 1 2 3 4 5 →