面向集成电路测试的测试数据转换方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN200710120008.1

申请日：

2007-08-06

公开(公告)号：

CN101364219A

公开(公告)日：

2009-02-11

发明(设计)人：

刘炜郑忠林吉国凡张琳王慧金兰孙博石志刚赵智昊陈希孙杨

申请人：

申请人地址：

100088北京市海淀区北三环中路31号泰思特大厦4层

IPC主分类号：

G06F1730

IPC分类号：

G01R3128

代理机构：

北京北新智诚知识产权代理有限公司

代理人：

陈曦

法律状态：

专利权人的姓名或者名称、地址的变更

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2011-02-23	专利权人的姓名或者名称、地址的变更	专利权人的姓名或者名称、地址的变更号牌文件类型代码:1602 号牌文件序号:101068492078 IPC(主分类):G06F 17/30 专利号:ZL2007101200081 变更事项:专利权人变更前:北京华大泰思特半导体检测技术有限公司变更后:北京确安科技股份有限公司变更事项:地址变更前:100088 北京市海淀区北三环中路31号泰思特大厦4层变更后:100094 海淀区永丰基地丰贤中路7号孵化楼A楼二层
2018-08-28	专利权的终止	未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G06F 17/30 申请日:20070806 授权公告日:20100623 终止日期:20170806
2010-06-23	授权	授权
2009-04-08	实质审查的生效	实质审查的生效
2009-02-11	公开	公开

共 50 条

[1]

集成电路测试中的测试数据压缩方法 [P].

詹文法 ;

马俊 ;

石冰 ;

韩建华 ;

孙秀芳 .

中国专利 :CN101968528B ,2011-02-09

[2]

集成电路测试数据融合分析系统 [P].

彭红方 ;

黄树春 .

中国专利 :CN217305414U ,2022-08-26

[3]

一种集成电路测试数据记录方法 [P].

邵嘉阳 ;

吴勇佳 ;

徐倩云 ;

王静 ;

崔孝叶 .

中国专利 :CN112526317A ,2021-03-19

[4]

一种集成电路测试数据的处理方法 [P].

张小孟 ;

李鑫 ;

刘利新 ;

练滨浩 ;

姚全斌 .

中国专利 :CN103116617A ,2013-05-22

[5]

一种集成电路测试数据管理方法 [P].

邢广军 .

中国专利 :CN119645635A ,2025-03-18

[6]

集成电路测试系统及集成电路测试系统的控制方法 [P].

徐正元 .

中国专利 :CN102854455A ,2013-01-02

[7]

一种集成电路测试数据融合分析方法 [P].

向彦瑾 .

中国专利 :CN110795481A ,2020-02-14

[8]

一种集成电路测试数据融合分析方法 [P].

罗斌 ;

刘远华 ;

余琨 ;

王玉龙 ;

王华 ;

牛勇 .

中国专利 :CN109447108A ,2019-03-08

[9]

集成电路测试方法和集成电路测试系统 [P].

张晓磊 .

中国专利 :CN114264936A ,2022-04-01

[10]

一种集成电路测试数据分析方法及系统 [P].

苏广峰 ;

姜伟伟 .

中国专利 :CN112346920A ,2021-02-09

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