集成电路测试数据融合分析系统

被引：0

申请号：

CN202220079341.2

申请日：

2022-01-13

公开(公告)号：

CN217305414U

公开(公告)日：

2022-08-26

发明(设计)人：

彭红方黄树春

申请人：

申请人地址：

518000 广东省深圳市龙岗区坂田街道岗头社区五和大道4012号元征科技厂区总部办公楼二层221

IPC主分类号：

G01R3128

IPC分类号：

G01R104

代理机构：

代理人：

法律状态：

授权

国省代码：

引用

下载

收藏

法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2022-08-26	授权	授权

共 50 条

[1]

一种集成电路测试数据融合分析方法 [P].

向彦瑾 .

中国专利 :CN110795481A ,2020-02-14

[2]

一种集成电路测试数据融合分析方法 [P].

罗斌 ;

刘远华 ;

余琨 ;

王玉龙 ;

王华 ;

牛勇 .

中国专利 :CN109447108A ,2019-03-08

[3]

一种集成电路测试数据查询系统 [P].

徐正元 .

中国专利 :CN203012716U ,2013-06-19

[4]

一种集成电路测试数据分析方法及系统 [P].

苏广峰 ;

姜伟伟 .

中国专利 :CN112346920A ,2021-02-09

[5]

面向集成电路测试的测试数据转换方法 [P].

刘炜 ;

郑忠林 ;

吉国凡 ;

张琳 ;

王慧 ;

金兰 ;

孙博 ;

石志刚 ;

赵智昊 ;

陈希 ;

孙杨 .

中国专利 :CN101364219A ,2009-02-11

[6]

集成电路测试系统 [P].

叶剑文 .

中国专利 :CN207799022U ,2018-08-31

[7]

集成电路测试系统 [P].

祁俊华 .

中国专利 :CN207798988U ,2018-08-31

[8]

集成电路测试中的测试数据压缩方法 [P].

詹文法 ;

马俊 ;

石冰 ;

韩建华 ;

孙秀芳 .

中国专利 :CN101968528B ,2011-02-09

[9]

一种集成电路测试数据记录方法 [P].

邵嘉阳 ;

吴勇佳 ;

徐倩云 ;

王静 ;

崔孝叶 .

中国专利 :CN112526317A ,2021-03-19

[10]

一种集成电路测试载板 [P].

马毅超 ;

李军鹏 .

中国专利 :CN222014283U ,2024-11-15

← 1 2 3 4 5 →