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一种集成电路测试数据分析方法及系统

被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN202011328711.3
申请日：
2020-11-24
公开(公告)号：
CN112346920A
公开(公告)日：
2021-02-09
发明(设计)人：
苏广峰 姜伟伟
申请人：
申请人地址：
225000 江苏省扬州市高新技术产业开发区南区创富工厂1号楼1-5层
IPC主分类号：
G06F1122
IPC分类号：
代理机构：
北京文苑专利代理有限公司 11516
代理人：
周会
法律状态：
实质审查的生效
国省代码：
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法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2021-03-02 实质审查的生效 实质审查的生效 IPC(主分类):G06F 11/22 申请日:20201124
2021-02-09 公开 公开
共 50 条
[1]
一种集成电路可靠性测试数据分析方法 [P]. 
鹿靖 ;
江军 ;
季玉华 ;
高鹏 ;
郭梦洁 ;
焦涛 .
中国专利 :CN120064937A ,2025-05-30
[2]
集成电路测试数据融合分析系统 [P]. 
彭红方 ;
黄树春 .
中国专利 :CN217305414U ,2022-08-26
[3]
一种集成电路测试数据融合分析方法 [P]. 
向彦瑾 .
中国专利 :CN110795481A ,2020-02-14
[4]
一种集成电路测试数据融合分析方法 [P]. 
罗斌 ;
刘远华 ;
余琨 ;
王玉龙 ;
王华 ;
牛勇 .
中国专利 :CN109447108A ,2019-03-08
[5]
一种芯片测试数据分析方法及系统 [P]. 
孙祥青 ;
杨志刚 ;
汪乐 ;
陈刚 .
中国专利 :CN120216242A ,2025-06-27
[6]
一种测试数据分析方法及系统 [P]. 
徐中英 ;
何华锋 ;
岳瑞华 ;
孔祥玉 ;
郑建飞 ;
赵沙乐 ;
李小锋 .
中国专利 :CN113505069A ,2021-10-15
[7]
一种测试数据分析方法及系统 [P]. 
徐中英 ;
何华锋 ;
岳瑞华 ;
孔祥玉 ;
郑建飞 ;
赵沙乐 ;
李小锋 .
中国专利 :CN113505069B ,2024-01-05
[8]
面向集成电路测试的测试数据转换方法 [P]. 
刘炜 ;
郑忠林 ;
吉国凡 ;
张琳 ;
王慧 ;
金兰 ;
孙博 ;
石志刚 ;
赵智昊 ;
陈希 ;
孙杨 .
中国专利 :CN101364219A ,2009-02-11
[9]
一种集成电路测试数据记录方法 [P]. 
邵嘉阳 ;
吴勇佳 ;
徐倩云 ;
王静 ;
崔孝叶 .
中国专利 :CN112526317A ,2021-03-19
[10]
一种集成电路测试数据管理方法 [P]. 
邢广军 .
中国专利 :CN119645635A ,2025-03-18
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