一种集成电路测试数据管理方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202411717231.4

申请日：

2024-11-27

公开(公告)号：

CN119645635A

公开(公告)日：

2025-03-18

发明(设计)人：

邢广军

申请人：

山东芯通微电子科技有限公司

申请人地址：

250100 山东省济南市高新区航天大道5999号济南综合保税区4号标准厂房

IPC主分类号：

G06F9/50

IPC分类号：

代理机构：

山东舜源联合知识产权代理有限公司 37359

代理人：

闫晓燕

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-03-18	公开	公开
2025-04-04	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G06F 9/50申请日:20241127

共 50 条

[1]

面向集成电路测试的测试数据转换方法 [P].

刘炜 ;

郑忠林 ;

吉国凡 ;

张琳 ;

王慧 ;

金兰 ;

孙博 ;

石志刚 ;

赵智昊 ;

陈希 ;

孙杨 .

中国专利 :CN101364219A ,2009-02-11

[2]

一种集成电路测试数据记录方法 [P].

邵嘉阳 ;

吴勇佳 ;

徐倩云 ;

王静 ;

崔孝叶 .

中国专利 :CN112526317A ,2021-03-19

[3]

一种电池测试数据管理方法 [P].

刘震 ;

陈冬冬 ;

陈方平 ;

沈斌 ;

池礼凯 .

中国专利 :CN115587077A ,2023-01-10

[4]

一种集成电路测试数据融合分析方法 [P].

向彦瑾 .

中国专利 :CN110795481A ,2020-02-14

[5]

一种集成电路测试数据的处理方法 [P].

张小孟 ;

李鑫 ;

刘利新 ;

练滨浩 ;

姚全斌 .

中国专利 :CN103116617A ,2013-05-22

[6]

一种集成电路测试数据融合分析方法 [P].

罗斌 ;

刘远华 ;

余琨 ;

王玉龙 ;

王华 ;

牛勇 .

中国专利 :CN109447108A ,2019-03-08

[7]

一种集成电路测试数据分析方法及系统 [P].

苏广峰 ;

姜伟伟 .

中国专利 :CN112346920A ,2021-02-09

[8]

集成电路测试数据融合分析系统 [P].

彭红方 ;

黄树春 .

中国专利 :CN217305414U ,2022-08-26

[9]

一种集成电路测试数据查询系统 [P].

徐正元 .

中国专利 :CN203012716U ,2013-06-19

[10]

集成电路测试中的测试数据压缩方法 [P].

詹文法 ;

马俊 ;

石冰 ;

韩建华 ;

孙秀芳 .

中国专利 :CN101968528B ,2011-02-09

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