一种集成电路测试数据的处理方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201310032445.3

申请日：

2013-01-29

公开(公告)号：

CN103116617A

公开(公告)日：

2013-05-22

发明(设计)人：

张小孟李鑫刘利新练滨浩姚全斌

申请人：

申请人地址：

100076 北京市丰台区东高地四营门北路2号

IPC主分类号：

G06F1730

IPC分类号：

代理机构：

中国航天科技专利中心 11009

代理人：

安丽

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2016-02-10	授权	授权
2013-06-19	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101475924905 IPC(主分类):G06F 17/30 专利申请号:2013100324453 申请日:20130129
2013-05-22	公开	公开

共 50 条

[1]

一种集成电路测试数据记录方法 [P].

邵嘉阳 ;

吴勇佳 ;

徐倩云 ;

王静 ;

崔孝叶 .

中国专利 :CN112526317A ,2021-03-19

[2]

面向集成电路测试的测试数据转换方法 [P].

刘炜 ;

郑忠林 ;

吉国凡 ;

张琳 ;

王慧 ;

金兰 ;

孙博 ;

石志刚 ;

赵智昊 ;

陈希 ;

孙杨 .

中国专利 :CN101364219A ,2009-02-11

[3]

一种集成电路测试数据融合分析方法 [P].

向彦瑾 .

中国专利 :CN110795481A ,2020-02-14

[4]

一种集成电路测试数据融合分析方法 [P].

罗斌 ;

刘远华 ;

余琨 ;

王玉龙 ;

王华 ;

牛勇 .

中国专利 :CN109447108A ,2019-03-08

[5]

集成电路测试中的测试数据压缩方法 [P].

詹文法 ;

马俊 ;

石冰 ;

韩建华 ;

孙秀芳 .

中国专利 :CN101968528B ,2011-02-09

[6]

集成电路测试数据融合分析系统 [P].

彭红方 ;

黄树春 .

中国专利 :CN217305414U ,2022-08-26

[7]

一种集成电路测试数据的筛选方法及装置 [P].

奚留华 .

中国专利 :CN108037433A ,2018-05-15

[8]

一种集成电路测试数据管理方法 [P].

邢广军 .

中国专利 :CN119645635A ,2025-03-18

[9]

一种集成电路测试数据查询系统 [P].

徐正元 .

中国专利 :CN203012716U ,2013-06-19

[10]

一种集成电路测试数据的筛选装置 [P].

刘勇 ;

胡红梅 ;

张军 ;

王有宇 .

中国专利 :CN210604882U ,2020-05-22

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