一种三维集成芯片结构及其制备方法

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN201510448294.9
申请日
2015-07-27
公开(公告)号
CN105047649A
公开(公告)日
2015-11-11
发明(设计)人
胡胜 周玉 孙鹏
申请人
申请人地址
430205 湖北省武汉市东湖开发区高新四路18号
IPC主分类号
H01L2358
IPC分类号
代理机构
上海申新律师事务所 31272
代理人
俞涤炯
法律状态
发明专利申请公布后的驳回
国省代码
引用
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共 50 条
[1]
三维集成芯片、散热结构及其制备方法 [P]. 
任慧雪 ;
伍绍腾 ;
骆军委 ;
李赛磊 ;
何力 ;
朱元昊 .
中国专利 :CN120280350A ,2025-07-08
[2]
一种三维集成芯片及其制备方法 [P]. 
冯俊伟 .
中国专利 :CN120109024A ,2025-06-06
[3]
三维集成芯片结构及其布置方法、芯片 [P]. 
刘子玉 ;
张卫 ;
鲁晓嫚 ;
孙清清 ;
陈琳 .
中国专利 :CN119521782A ,2025-02-25
[4]
三维封装光电集成芯片结构及其制备方法 [P]. 
李明 ;
李方萍 ;
谢毓俊 ;
孙雨舟 ;
杨先超 ;
任之良 ;
赵志勇 ;
李伟 ;
祝宁华 .
中国专利 :CN117170048B ,2024-01-23
[5]
一种三维集成晶圆及其测试方法、三维集成芯片 [P]. 
殷鹏 ;
高旭东 ;
柴泾睿 ;
马斌 ;
朱晓薇 ;
郭杏 ;
麻乐 .
中国专利 :CN114141648A ,2022-03-04
[6]
一种三维集成芯片 [P]. 
任奇伟 ;
左丰国 ;
周骏 ;
郭一欣 ;
江喜平 .
中国专利 :CN113793844B ,2024-05-31
[7]
一种三维集成芯片 [P]. 
任奇伟 ;
左丰国 ;
周骏 ;
郭一欣 ;
江喜平 .
中国专利 :CN113793844A ,2021-12-14
[8]
三维集成芯片、三维集成芯片的测试方法以及检测装置 [P]. 
付妮 .
中国专利 :CN114910779A ,2022-08-16
[9]
三维集成芯片、三维集成芯片的测试方法以及检测装置 [P]. 
付妮 .
中国专利 :CN114910779B ,2025-09-02
[10]
三维集成芯片以及三维集成芯片的测试方法、上电方法 [P]. 
李乾男 ;
张衍芳 .
中国专利 :CN114595649A ,2022-06-07