一种用于导电型碳化硅晶片的应力检测装置

被引:0
申请号
CN202222799044.8
申请日
2022-10-24
公开(公告)号
CN218180159U
公开(公告)日
2022-12-30
发明(设计)人
顾跃 黄晓升
申请人
申请人地址
361006 福建省厦门市火炬高新区火炬园火炬路56-58号火炬广场南楼420-95
IPC主分类号
G01L124
IPC分类号
代理机构
重庆博凯知识产权代理有限公司 50212
代理人
李海华
法律状态
授权
国省代码
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共 50 条
[1]
一种用于碳化硅晶片的检测装置 [P]. 
申雪珍 ;
邹宇 ;
张平 .
中国专利 :CN215599041U ,2022-01-21
[2]
用于导电型碳化硅晶片的电流加热装置 [P]. 
丁雄傑 ;
韩景瑞 ;
刘薇 ;
邹雄辉 ;
李锡光 .
中国专利 :CN217922436U ,2022-11-29
[3]
一种用于碳化硅晶片的检测装置 [P]. 
李有群 ;
贺贤汉 ;
章磊 ;
卢晨 ;
顾雪龙 .
中国专利 :CN216978810U ,2022-07-15
[4]
一种碳化硅晶片的缺陷检测装置 [P]. 
雷裕 ;
周磊 ;
周杰 ;
田涵文 .
中国专利 :CN222866569U ,2025-05-13
[5]
一种碳化硅晶片的缺陷检测装置 [P]. 
雷裕 ;
章娇 ;
潘传杨 ;
徐晨 .
中国专利 :CN222913463U ,2025-05-27
[6]
用于导电型碳化硅晶片的电流加热装置 [P]. 
丁雄傑 ;
韩景瑞 ;
刘薇 ;
邹雄辉 ;
李锡光 .
中国专利 :CN114808142A ,2022-07-29
[7]
用于导电型碳化硅晶片的电流加热装置 [P]. 
丁雄傑 ;
韩景瑞 ;
刘薇 ;
邹雄辉 ;
李锡光 .
中国专利 :CN114808142B ,2025-07-04
[8]
一种用于碳化硅晶片的抛光装置 [P]. 
白欣娇 ;
李帅 ;
曾昊 ;
申硕 ;
崔素杭 .
中国专利 :CN211916473U ,2020-11-13
[9]
一种碳化硅晶片微管缺陷检测装置 [P]. 
宁敏 ;
刘云青 ;
张红岩 ;
高玉强 .
中国专利 :CN203643357U ,2014-06-11
[10]
一种碳化硅晶片清洗机的检测装置 [P]. 
郝运达 ;
吕芳栋 ;
罗鸿 ;
苗家旺 .
中国专利 :CN222505832U ,2025-02-18