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一种用于导电型碳化硅晶片的应力检测装置
被引:0
申请号
:
CN202222799044.8
申请日
:
2022-10-24
公开(公告)号
:
CN218180159U
公开(公告)日
:
2022-12-30
发明(设计)人
:
顾跃
黄晓升
申请人
:
申请人地址
:
361006 福建省厦门市火炬高新区火炬园火炬路56-58号火炬广场南楼420-95
IPC主分类号
:
G01L124
IPC分类号
:
代理机构
:
重庆博凯知识产权代理有限公司 50212
代理人
:
李海华
法律状态
:
授权
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2022-12-30
授权
授权
共 50 条
[1]
一种用于碳化硅晶片的检测装置
[P].
申雪珍
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申雪珍
;
邹宇
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邹宇
;
张平
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张平
.
中国专利
:CN215599041U
,2022-01-21
[2]
用于导电型碳化硅晶片的电流加热装置
[P].
丁雄傑
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丁雄傑
;
韩景瑞
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韩景瑞
;
刘薇
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刘薇
;
邹雄辉
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邹雄辉
;
李锡光
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李锡光
.
中国专利
:CN217922436U
,2022-11-29
[3]
一种用于碳化硅晶片的检测装置
[P].
李有群
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李有群
;
贺贤汉
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贺贤汉
;
章磊
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章磊
;
卢晨
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卢晨
;
顾雪龙
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顾雪龙
.
中国专利
:CN216978810U
,2022-07-15
[4]
一种碳化硅晶片的缺陷检测装置
[P].
雷裕
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机构:
通威微电子有限公司
通威微电子有限公司
雷裕
;
周磊
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机构:
通威微电子有限公司
通威微电子有限公司
周磊
;
周杰
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通威微电子有限公司
通威微电子有限公司
周杰
;
田涵文
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机构:
通威微电子有限公司
通威微电子有限公司
田涵文
.
中国专利
:CN222866569U
,2025-05-13
[5]
一种碳化硅晶片的缺陷检测装置
[P].
雷裕
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机构:
通威微电子有限公司
通威微电子有限公司
雷裕
;
章娇
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机构:
通威微电子有限公司
通威微电子有限公司
章娇
;
潘传杨
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机构:
通威微电子有限公司
通威微电子有限公司
潘传杨
;
徐晨
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机构:
通威微电子有限公司
通威微电子有限公司
徐晨
.
中国专利
:CN222913463U
,2025-05-27
[6]
用于导电型碳化硅晶片的电流加热装置
[P].
丁雄傑
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丁雄傑
;
韩景瑞
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韩景瑞
;
刘薇
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刘薇
;
邹雄辉
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邹雄辉
;
李锡光
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李锡光
.
中国专利
:CN114808142A
,2022-07-29
[7]
用于导电型碳化硅晶片的电流加热装置
[P].
丁雄傑
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机构:
广东天域半导体股份有限公司
广东天域半导体股份有限公司
丁雄傑
;
韩景瑞
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机构:
广东天域半导体股份有限公司
广东天域半导体股份有限公司
韩景瑞
;
刘薇
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机构:
广东天域半导体股份有限公司
广东天域半导体股份有限公司
刘薇
;
邹雄辉
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机构:
广东天域半导体股份有限公司
广东天域半导体股份有限公司
邹雄辉
;
李锡光
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机构:
广东天域半导体股份有限公司
广东天域半导体股份有限公司
李锡光
.
中国专利
:CN114808142B
,2025-07-04
[8]
一种用于碳化硅晶片的抛光装置
[P].
白欣娇
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白欣娇
;
李帅
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李帅
;
曾昊
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曾昊
;
申硕
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申硕
;
崔素杭
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崔素杭
.
中国专利
:CN211916473U
,2020-11-13
[9]
一种碳化硅晶片微管缺陷检测装置
[P].
宁敏
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宁敏
;
刘云青
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刘云青
;
张红岩
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张红岩
;
高玉强
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高玉强
.
中国专利
:CN203643357U
,2014-06-11
[10]
一种碳化硅晶片清洗机的检测装置
[P].
郝运达
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机构:
通威微电子有限公司
通威微电子有限公司
郝运达
;
吕芳栋
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机构:
通威微电子有限公司
通威微电子有限公司
吕芳栋
;
罗鸿
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机构:
通威微电子有限公司
通威微电子有限公司
罗鸿
;
苗家旺
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机构:
通威微电子有限公司
通威微电子有限公司
苗家旺
.
中国专利
:CN222505832U
,2025-02-18
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