一种半导体氮化镓外延薄膜衬底的制备方法

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专利类型
发明
申请号
CN200810103523.3
申请日
2008-04-08
公开(公告)号
CN101556914A
公开(公告)日
2009-10-14
发明(设计)人
连贵君 熊光成 康香宁 张国义
申请人
申请人地址
100871北京市海淀区颐和园路5号
IPC主分类号
H01L2102
IPC分类号
H01L21268
代理机构
北京君尚知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人
贾晓玲
法律状态
授权
国省代码
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共 50 条
[1]
垂直氮化镓半导体器件和外延衬底 [P]. 
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木山诚 ;
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[2]
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[3]
一种氮化镓衬底及半导体复合衬底 [P]. 
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[4]
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[5]
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[6]
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[7]
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[9]
一种氮化镓外延层、半导体器件及其制备方法 [P]. 
林信南 ;
刘美华 ;
刘岩军 .
中国专利 :CN110620157B ,2024-10-25
[10]
氮化镓外延层、半导体器件及所述半导体器件的制备方法 [P]. 
林信南 ;
刘美华 ;
刘岩军 .
中国专利 :CN110620158A ,2019-12-27