半导体器件及其形成方法

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202110124261.4
申请日
2021-01-29
公开(公告)号
CN113284898A
公开(公告)日
2021-08-20
发明(设计)人
马礼修 林仲德
申请人
申请人地址
中国台湾新竹
IPC主分类号
H01L27108
IPC分类号
H01L218242
代理机构
北京德恒律治知识产权代理有限公司 11409
代理人
章社杲;李伟
法律状态
实质审查的生效
国省代码
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共 50 条
[1]
半导体器件及其形成方法 [P]. 
马礼修 ;
林仲德 .
中国专利 :CN113284898B ,2024-09-10
[2]
半导体器件及其形成方法 [P]. 
黄旺骏 ;
蔡庆威 ;
程冠伦 ;
王志豪 .
中国专利 :CN113314520A ,2021-08-27
[3]
半导体器件及其形成方法 [P]. 
黄旺骏 ;
蔡庆威 ;
程冠伦 ;
王志豪 .
中国专利 :CN113314520B ,2024-06-07
[4]
半导体器件及其形成方法 [P]. 
高汉杰 ;
赵杰 ;
宋伟基 .
中国专利 :CN104752179A ,2015-07-01
[5]
半导体器件及其形成方法 [P]. 
林士尧 ;
吴沛修 ;
王志平 ;
林志翰 ;
林志忠 ;
周昀亭 ;
吴振宇 .
中国专利 :CN113224007A ,2021-08-06
[6]
半导体器件及其形成方法 [P]. 
熊德智 ;
吴俊德 ;
王鵬 ;
林焕哲 .
中国专利 :CN113948472A ,2022-01-18
[7]
半导体器件及其形成方法 [P]. 
卜伟海 ;
康劲 .
中国专利 :CN104681403A ,2015-06-03
[8]
半导体器件及其形成方法 [P]. 
高琬贻 ;
柯忠祁 .
中国专利 :CN111211088A ,2020-05-29
[9]
半导体器件及其形成方法 [P]. 
高超 ;
江红 ;
王哲献 .
中国专利 :CN103811307A ,2014-05-21
[10]
半导体器件及其形成方法 [P]. 
许家豪 ;
洪建玮 ;
丁国强 ;
叶松峯 .
中国专利 :CN117438420A ,2024-01-23