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半导体装置及其制造方法
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN201710844807.7
申请日
:
2017-09-19
公开(公告)号
:
CN109524395B
公开(公告)日
:
2019-03-26
发明(设计)人
:
邱建维
林鑫成
胡钰豪
申请人
:
申请人地址
:
中国台湾新竹科学工业园区
IPC主分类号
:
H01L2702
IPC分类号
:
H01L2972
H01L2176
H01L2906
代理机构
:
北京三友知识产权代理有限公司 11127
代理人
:
王涛;贾磊
法律状态
:
公开
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2019-03-26
公开
公开
2019-04-19
实质审查的生效
实质审查的生效 IPC(主分类):H01L 27/02 申请日:20170919
2020-09-11
授权
授权
共 50 条
[1]
半导体装置及其制造方法
[P].
王志豪
论文数:
0
引用数:
0
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0
王志豪
;
蔡庆威
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蔡庆威
;
陈尚志
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陈尚志
.
中国专利
:CN100438073C
,2006-01-25
[2]
互补型金属氧化物半导体装置、半导体装置及其制造方法
[P].
葛崇祜
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葛崇祜
;
柯志欣
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柯志欣
;
李文钦
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李文钦
.
中国专利
:CN101241913B
,2008-08-13
[3]
半导体结构及其制造方法
[P].
马瑞吉
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马瑞吉
;
杨国裕
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杨国裕
.
中国专利
:CN111554734A
,2020-08-18
[4]
半导体结构及其制造方法
[P].
马瑞吉
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马瑞吉
;
杨国裕
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杨国裕
.
中国专利
:CN110660811A
,2020-01-07
[5]
半导体装置及其制造方法
[P].
粉谷直树
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粉谷直树
;
濑部绍夫
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濑部绍夫
;
冈崎玄
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冈崎玄
;
玉置德彦
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玉置德彦
.
中国专利
:CN1983634A
,2007-06-20
[6]
CMOS半导体装置及其制造方法
[P].
丁英洙
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丁英洙
;
丁炯硕
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丁炯硕
;
许成
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许成
;
白贤锡
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白贤锡
.
中国专利
:CN101257023A
,2008-09-03
[7]
半导体器件及其制造方法
[P].
杨海宁
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杨海宁
;
李伟健
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李伟健
.
中国专利
:CN101093832A
,2007-12-26
[8]
半导体器件及其制造方法
[P].
B·B·多里斯
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B·B·多里斯
;
D·R·梅戴罗斯
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D·R·梅戴罗斯
;
A·W·托波尔
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A·W·托波尔
;
T·W·戴耶
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T·W·戴耶
.
中国专利
:CN101090115A
,2007-12-19
[9]
半导体器件及其制造方法
[P].
高尧焕
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高尧焕
;
崔珍赫
论文数:
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崔珍赫
.
中国专利
:CN1171629A
,1998-01-28
[10]
半导体元件及其制造方法
[P].
蔡英杰
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蔡英杰
;
陈永初
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陈永初
;
龚正
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龚正
.
中国专利
:CN104733457B
,2015-06-24
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