测试半导体器件的电路和方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN200510059281.9

申请日：

2005-03-25

公开(公告)号：

CN1690724A

公开(公告)日：

2005-11-02

发明(设计)人：

世永丈

申请人：

申请人地址：

日本东京

IPC主分类号：

G01R3128

IPC分类号：

代理机构：

中国国际贸易促进委员会专利商标事务所

代理人：

付建军

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2007-05-23	实质审查的生效	实质审查的生效
2011-09-14	发明专利申请公布后的驳回	发明专利申请公布后的驳回号牌文件类型代码:1602 号牌文件序号:101183784456 IPC(主分类):G01R 31/28 专利申请号:2005100592819 公开日:20051102
2005-11-02	公开	公开

共 50 条

[1]

用于半导体器件的测试电路和测试方法及半导体芯片 [P].

杉山秀俊 ;

中岛雅夫 ;

毛利阳幸 ;

铃木英明 .

中国专利 :CN101030547A ,2007-09-05

[2]

半导体器件和测试半导体器件的方法 [P].

桥本洁和 ;

常定信利 .

中国专利 :CN101241751B ,2008-08-13

[3]

用于半导体器件的测试电路和方法 [P].

李东郁 .

中国专利 :CN104237640B ,2014-12-24

[4]

测试电路、测试系统、测试方法和半导体器件 [P].

侯闯明 .

中国专利 :CN117368676A ,2024-01-09

[5]

半导体器件和用于测试半导体器件的方法 [P].

月城玄 .

中国专利 :CN100547424C ,2006-10-04

[6]

测试电路、包括测试电路的半导体器件和测试系统 [P].

金东旭 .

中国专利 :CN112435708A ,2021-03-02

[7]

半导体器件的测试电路及测试方法 [P].

柯天麒 ;

苏凤梅 ;

汤茂亮 .

中国专利 :CN109860150A ,2019-06-07

[8]

半导体器件的测试电路与测试方法 [P].

伍珈乐 ;

陈中圆 ;

金锐 ;

贾晓龙 .

中国专利 :CN119165323A ,2024-12-20

[9]

半导体器件的测试电路与测试方法 [P].

伍珈乐 ;

陈中圆 ;

金锐 ;

贾晓龙 .

中国专利 :CN119165323B ,2025-04-11

[10]

半导体器件、半导体器件的测试方法和探针卡 [P].

内田练 ;

森雅美 .

中国专利 :CN101093244B ,2007-12-26

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