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晶圆抛光设备
被引:0
专利类型
:
实用新型
申请号
:
CN202121747775.7
申请日
:
2021-07-29
公开(公告)号
:
CN215547738U
公开(公告)日
:
2022-01-18
发明(设计)人
:
时岱
吴楠
杨军
包斌
申请人
:
申请人地址
:
518107 广东省深圳市光明区凤凰街道凤凰社区观光路招商局光明科技园A1A2栋A1栋402
IPC主分类号
:
B24B2902
IPC分类号
:
B24B4100
B24B5506
B24B4500
B24B4106
代理机构
:
北京化育知识产权代理有限公司 11833
代理人
:
尹均利
法律状态
:
授权
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2022-01-18
授权
授权
共 50 条
[21]
晶圆抛光装置
[P].
林涛
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
林涛
;
邹晓明
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
邹晓明
;
陶源
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
陶源
.
中国专利
:CN203665284U
,2014-06-25
[22]
晶圆抛光扣环
[P].
彭朋益
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
彭朋益
.
中国专利
:CN2643479Y
,2004-09-22
[23]
晶圆抛光装置
[P].
万先进
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
宁波芯丰精密科技有限公司
宁波芯丰精密科技有限公司
万先进
;
胡孟杰
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
宁波芯丰精密科技有限公司
宁波芯丰精密科技有限公司
胡孟杰
;
李俊
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
宁波芯丰精密科技有限公司
宁波芯丰精密科技有限公司
李俊
;
尤国振
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
宁波芯丰精密科技有限公司
宁波芯丰精密科技有限公司
尤国振
;
张怀东
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
宁波芯丰精密科技有限公司
宁波芯丰精密科技有限公司
张怀东
;
朱松
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
宁波芯丰精密科技有限公司
宁波芯丰精密科技有限公司
朱松
;
边逸军
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
宁波芯丰精密科技有限公司
宁波芯丰精密科技有限公司
边逸军
.
中国专利
:CN220372845U
,2024-01-23
[24]
晶圆抛光方法
[P].
李振华
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
李振华
;
刘会红
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
刘会红
.
中国专利
:CN110919467A
,2020-03-27
[25]
一种晶圆减薄膜抛光设备
[P].
杨彬
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
泰将半导体(南通)有限公司
泰将半导体(南通)有限公司
杨彬
.
中国专利
:CN221232302U
,2024-06-28
[26]
一种半导体晶圆抛光设备
[P].
梁宝文
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
梁宝文
.
中国专利
:CN217371843U
,2022-09-06
[27]
玻璃晶圆抛光机
[P].
蔡星周
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
蔡星周
;
王文君
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
王文君
;
穆俊宏
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
穆俊宏
;
奉建华
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
奉建华
;
张继华
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
张继华
.
中国专利
:CN211439504U
,2020-09-08
[28]
晶圆擦洗设备、擦洗系统、抛光设备及晶圆清洗方法
[P].
李灯
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
华海清科股份有限公司
华海清科股份有限公司
李灯
;
李长坤
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
华海清科股份有限公司
华海清科股份有限公司
李长坤
.
中国专利
:CN119314866B
,2025-04-15
[29]
晶圆擦洗设备、擦洗系统、抛光设备及晶圆清洗方法
[P].
李灯
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
华海清科股份有限公司
华海清科股份有限公司
李灯
;
李长坤
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
华海清科股份有限公司
华海清科股份有限公司
李长坤
.
中国专利
:CN119314866A
,2025-01-14
[30]
晶圆终点在线检测抛光设备及晶圆厚度在线检测方法
[P].
孟炜涛
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
北京特思迪半导体设备有限公司
北京特思迪半导体设备有限公司
孟炜涛
;
周惠言
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
北京特思迪半导体设备有限公司
北京特思迪半导体设备有限公司
周惠言
;
蒋继乐
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
北京特思迪半导体设备有限公司
北京特思迪半导体设备有限公司
蒋继乐
.
中国专利
:CN118322101A
,2024-07-12
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