集成电路测试分选机防芯片洒料装置

被引:0
专利类型
实用新型
申请号
CN202120153491.9
申请日
2021-01-20
公开(公告)号
CN215031218U
公开(公告)日
2021-12-07
发明(设计)人
吴成君 林强
申请人
申请人地址
350012 福建省福州市仓山区盖山镇阳岐支路10号1栋4楼
IPC主分类号
B07C502
IPC分类号
B07C534
代理机构
福州元创专利商标代理有限公司 35100
代理人
陆帅;蔡学俊
法律状态
授权
国省代码
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共 50 条
[21]
一种集成电路测试分选机 [P]. 
黄伟华 .
中国专利 :CN214184110U ,2021-09-14
[22]
密距脚集成电路测试分选机 [P]. 
陈贤明 ;
林宽强 .
中国专利 :CN202270662U ,2012-06-13
[23]
一种集成电路测试分选机 [P]. 
朱燕华 .
中国专利 :CN113843162A ,2021-12-28
[24]
一种集成电路测试分选机 [P]. 
谢银泉 .
中国专利 :CN108311419B ,2018-07-24
[25]
一种集成电路测试分选机 [P]. 
谢飞 .
中国专利 :CN113843187A ,2021-12-28
[26]
集成电路芯片平移式分选机料盘供应装置 [P]. 
谢名富 ;
吴成君 ;
林强 ;
刘烽 .
中国专利 :CN216888664U ,2022-07-05
[27]
集成电路分选机测试装置 [P]. 
鲍军其 ;
赵轶 ;
刘聪 ;
韩笑 .
中国专利 :CN105268651A ,2016-01-27
[28]
集成电路芯片分选机高温测试冷却降温装置 [P]. 
吴成君 ;
林强 ;
张远斌 .
中国专利 :CN222197930U ,2024-12-20
[29]
QFN集成电路测试分选机双流道单元装置 [P]. 
陈慧峰 ;
伏道峻 ;
徐建春 ;
王忠华 .
中国专利 :CN201757757U ,2011-03-09
[30]
QFN集成电路测试分选机双流道单元装置 [P]. 
陈慧峰 ;
伏道峻 ;
徐建春 ;
王忠华 .
中国专利 :CN101887104B ,2010-11-17