一种大规模集成电路设计和制造的综合优化设备及方法

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专利类型
发明
申请号
CN201511019096.7
申请日
2015-12-30
公开(公告)号
CN105740496A
公开(公告)日
2016-07-06
发明(设计)人
俞宗强 李江伟
申请人
申请人地址
100176 北京市北京经济技术开发区经海四路156号院12号楼
IPC主分类号
G06F1750
IPC分类号
代理机构
北京元中知识产权代理有限责任公司 11223
代理人
王明霞
法律状态
授权
国省代码
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共 50 条
[1]
系统大规模集成电路设计支持设备及方法 [P]. 
冈本稔 .
中国专利 :CN100365637C ,2004-12-01
[2]
半导体大规模集成电路及半导体大规模集成电路制造方法 [P]. 
松泽一也 .
中国专利 :CN1828901A ,2006-09-06
[3]
大规模集成电路设计中多层绕障直角布线方法 [P]. 
张浩 ;
杨晶菁 .
中国专利 :CN108804811A ,2018-11-13
[4]
大规模集成电路设计中基于线长最短优化的绕障布线方法 [P]. 
张浩 ;
叶东毅 ;
陈羽中 ;
余春艳 ;
张栋 ;
杨晶菁 .
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[5]
制造大规模集成电路的处理设备 [P]. 
上杉文彦 ;
伊藤奈津子 .
中国专利 :CN1198589A ,1998-11-11
[6]
设计系统大规模集成电路的方法 [P]. 
中岛博行 .
中国专利 :CN1430265A ,2003-07-16
[7]
大规模集成电路的配置方法 [P]. 
崎山史朗 ;
木下雅善 ;
梶原准 ;
山本裕雄 ;
里见胜治 .
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[8]
大规模集成电路的测试方法及系统 [P]. 
杨兵 .
中国专利 :CN111624475B ,2020-09-04
[9]
一种大规模集成电路设计中的绕障直角斯坦纳树构造方法 [P]. 
张浩 ;
叶东毅 .
中国专利 :CN103324796A ,2013-09-25
[10]
一种大规模集成电路测试方法 [P]. 
邓希言 ;
梁剑秋 .
中国专利 :CN119959734A ,2025-05-09