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芯片老化测试方法和系统
被引：0
申请号：
CN202210337190.0
申请日：
2022-04-01
公开(公告)号：
CN114910772A
公开(公告)日：
2022-08-16
发明(设计)人：
肖俊华
梁欣
邱国志
申请人：
申请人地址：
310051 浙江省杭州市滨江区聚才路410号
IPC主分类号：
G01R3128
IPC分类号：
代理机构：
杭州华进联浙知识产权代理有限公司 33250
代理人：
贺才杰
法律状态：
公开
国省代码：
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法律状态
| 法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
| 2022-08-16 | 公开 | 公开 |
| 2022-09-02 | 实质审查的生效 | 实质审查的生效 IPC(主分类):G01R 31/28 申请日:20220401 |