一种具有原位SiN位错湮灭层的AlGaN薄膜及其外延生长方法

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202011052794.8
申请日
2020-09-29
公开(公告)号
CN112242459B
公开(公告)日
2021-01-19
发明(设计)人
张骏 岳金顺 梁仁瓅
申请人
申请人地址
215000 江苏省苏州市吴江区黎里镇城司路158号
IPC主分类号
H01L3300
IPC分类号
H01L3320
代理机构
武汉智嘉联合知识产权代理事务所(普通合伙) 42231
代理人
易贤卫
法律状态
公开
国省代码
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共 50 条
[1]
低位错无裂纹的AlN薄膜及其外延生长方法 [P]. 
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[2]
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[3]
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[4]
一种具有Si掺杂插入层的AlN复合薄膜及其外延生长方法 [P]. 
张骏 ;
岳金顺 ;
梁仁瓅 .
中国专利 :CN112242460A ,2021-01-19
[5]
具有防开裂功能的AlN薄膜及其外延生长方法 [P]. 
张骏 ;
张毅 ;
陈景文 ;
岳金顺 .
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[6]
LED的ALN缓冲层及其外延生长方法 [P]. 
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[7]
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[8]
一种硅基GaN薄膜及其外延生长方法 [P]. 
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[9]
一种降低量子阱位错密度的LED外延生长方法 [P]. 
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[10]
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