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一种具有原位SiN位错湮灭层的AlGaN薄膜及其外延生长方法
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN202011052794.8
申请日
:
2020-09-29
公开(公告)号
:
CN112242459B
公开(公告)日
:
2021-01-19
发明(设计)人
:
张骏
岳金顺
梁仁瓅
申请人
:
申请人地址
:
215000 江苏省苏州市吴江区黎里镇城司路158号
IPC主分类号
:
H01L3300
IPC分类号
:
H01L3320
代理机构
:
武汉智嘉联合知识产权代理事务所(普通合伙) 42231
代理人
:
易贤卫
法律状态
:
公开
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2021-01-19
公开
公开
2021-02-05
实质审查的生效
实质审查的生效 IPC(主分类):H01L 33/00 申请日:20200929
2022-05-20
授权
授权
共 50 条
[1]
低位错无裂纹的AlN薄膜及其外延生长方法
[P].
论文数:
引用数:
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机构:
孙文红
;
李耀泽
论文数:
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0
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机构:
广西大学
广西大学
李耀泽
.
中国专利
:CN119446896A
,2025-02-14
[2]
一种LED外延片及其外延生长方法
[P].
吴雪花
论文数:
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吴雪花
;
杨天鹏
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杨天鹏
;
郭文平
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0
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郭文平
;
陈向东
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0
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0
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0
陈向东
;
肖志国
论文数:
0
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0
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0
肖志国
.
中国专利
:CN102044606A
,2011-05-04
[3]
具有防开裂功能的AlN薄膜及其外延生长方法
[P].
张骏
论文数:
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0
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机构:
武汉优炜芯科技有限公司
武汉优炜芯科技有限公司
张骏
;
张毅
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机构:
武汉优炜芯科技有限公司
武汉优炜芯科技有限公司
张毅
;
陈景文
论文数:
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机构:
武汉优炜芯科技有限公司
武汉优炜芯科技有限公司
陈景文
;
岳金顺
论文数:
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0
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机构:
武汉优炜芯科技有限公司
武汉优炜芯科技有限公司
岳金顺
.
中国专利
:CN115312635B
,2025-07-18
[4]
一种具有Si掺杂插入层的AlN复合薄膜及其外延生长方法
[P].
张骏
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张骏
;
岳金顺
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岳金顺
;
梁仁瓅
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梁仁瓅
.
中国专利
:CN112242460A
,2021-01-19
[5]
具有防开裂功能的AlN薄膜及其外延生长方法
[P].
张骏
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张骏
;
张毅
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0
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张毅
;
陈景文
论文数:
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陈景文
;
岳金顺
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岳金顺
.
中国专利
:CN115312635A
,2022-11-08
[6]
LED的ALN缓冲层及其外延生长方法
[P].
徐平
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徐平
.
中国专利
:CN108878609A
,2018-11-23
[7]
一种基于MOCVD侧向外延制备低位错密度AlGaN薄膜的方法及AlGaN薄膜
[P].
许福军
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许福军
;
沈波
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0
沈波
;
张立胜
论文数:
0
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0
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张立胜
;
王明星
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王明星
;
国唯唯
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国唯唯
;
解楠
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解楠
;
孙元浩
论文数:
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孙元浩
;
秦志新
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0
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0
秦志新
.
中国专利
:CN106350783A
,2017-01-25
[8]
一种硅基GaN薄膜及其外延生长方法
[P].
马金榜
论文数:
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马金榜
;
张雅超
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张雅超
;
李一帆
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李一帆
;
姚一昕
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姚一昕
;
张进成
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张进成
;
马佩军
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马佩军
;
马晓华
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马晓华
;
郝跃
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郝跃
.
中国专利
:CN113921376A
,2022-01-11
[9]
一种降低量子阱位错密度的LED外延生长方法
[P].
林传强
论文数:
0
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0
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林传强
.
中国专利
:CN111223971A
,2020-06-02
[10]
一种氮化镓外延片及其外延片的生长方法
[P].
李利哲
论文数:
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李利哲
;
王国斌
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王国斌
.
中国专利
:CN113818087A
,2021-12-21
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