一种晶圆生产用厚度检测装置

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申请号
CN202221696159.8
申请日
2022-07-01
公开(公告)号
CN217877624U
公开(公告)日
2022-11-22
发明(设计)人
彭名君
申请人
申请人地址
201703 上海市青浦区崧秋路299号5幢105室
IPC主分类号
G01B2108
IPC分类号
代理机构
代理人
法律状态
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共 50 条
[1]
一种晶圆厚度检测装置 [P]. 
潘鸿举 ;
徐济长 ;
张黎斌 .
中国专利 :CN221549648U ,2024-08-16
[2]
一种多尺寸晶圆厚度检测装置 [P]. 
曹晓光 ;
李峰 .
中国专利 :CN217877627U ,2022-11-22
[3]
一种用于晶圆研磨生产的厚度检测装置 [P]. 
黎浩 ;
吴继清 ;
陈锋 .
中国专利 :CN216898649U ,2022-07-05
[4]
一种晶圆厚度检测设备 [P]. 
李海亮 ;
俞辉 ;
甘志金 .
中国专利 :CN218156017U ,2022-12-27
[5]
一种半导体晶圆厚度检测平台 [P]. 
姚凯 ;
刘珍林 .
中国专利 :CN221687514U ,2024-09-10
[6]
一种晶圆生产用晶圆瑕疵检测装置及方法 [P]. 
唐轩波 ;
唐浩然 ;
易波 ;
段小平 .
中国专利 :CN119936058A ,2025-05-06
[7]
一种晶圆生产用晶圆瑕疵检测装置及方法 [P]. 
唐轩波 ;
唐浩然 ;
易波 ;
段小平 .
中国专利 :CN119936058B ,2025-06-17
[8]
一种晶圆清洗用检测装置 [P]. 
楚磊 ;
王明鑫 ;
钱伟 .
中国专利 :CN218241774U ,2023-01-06
[9]
一种半导体晶圆厚度检测装置 [P]. 
翁晓升 .
中国专利 :CN223580951U ,2025-11-21
[10]
一种用于晶圆厚度的检测装置 [P]. 
贾怀宇 .
中国专利 :CN217900801U ,2022-11-25