电机老化用可变负载系统及老化测试系统

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN202121113115.3

申请日：

2021-05-24

公开(公告)号：

CN215263902U

公开(公告)日：

2021-12-21

发明(设计)人：

王清华王英喆莫荣贵

申请人：

申请人地址：

215211 江苏省苏州市苏州工业园区娄葑镇和顺路9号

IPC主分类号：

G01R3134

IPC分类号：

代理机构：

苏州新知行知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 32414

代理人：

马素琴

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2021-12-21	授权	授权

共 50 条

[1]

电机老化测试系统 [P].

张贤 ;

郭颖聪 ;

冯伟平 .

中国专利 :CN222506509U ,2025-02-18

[2]

老化测试箱及老化测试系统 [P].

陈剑晟 ;

沈冲 ;

王斌 ;

羡迪新 ;

陈驰 ;

高建辉 .

中国专利 :CN201716335U ,2011-01-19

[3]

老化测试机及老化测试系统 [P].

刘超 .

中国专利 :CN207215920U ,2018-04-10

[4]

老化板及芯片老化测试系统 [P].

王祺 ;

曹巍 .

中国专利 :CN218445837U ,2023-02-03

[5]

老化测试系统及老化测试方法 [P].

曾泉 ;

何海平 ;

苏鹏 ;

万聪颖 ;

赵悦斌 .

中国专利 :CN117471353A ,2024-01-30

[6]

老化测试电路、老化测试系统及老化测试方法 [P].

郝懿 .

中国专利 :CN114660379B ,2025-02-11

[7]

老化测试电路、老化测试系统及老化测试方法 [P].

郝懿 .

中国专利 :CN114660379A ,2022-06-24

[8]

老化测试系统 [P].

王斌 ;

沈冲 ;

陈剑晟 ;

羡迪新 ;

陈驰 ;

高建辉 .

中国专利 :CN201716396U ,2011-01-19

[9]

老化测试系统 [P].

沈冲 ;

陈剑晟 ;

王斌 ;

羡迪新 ;

陈驰 ;

高建辉 .

中国专利 :CN201716331U ,2011-01-19

[10]

芯片老化测试系统及老化测试方法 [P].

朱兵兵 ;

郭磊 ;

董国庆 ;

文国昇 ;

金从龙 .

中国专利 :CN120703553A ,2025-09-26

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