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等离子体刻蚀设备及刻蚀方法
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN201811061619.8
申请日
:
2018-09-12
公开(公告)号
:
CN110896019A
公开(公告)日
:
2020-03-20
发明(设计)人
:
卫晶
韦刚
杨京
申请人
:
申请人地址
:
100176 北京市北京经济技术开发区文昌大道8号
IPC主分类号
:
H01J3732
IPC分类号
:
H01L213065
代理机构
:
北京天昊联合知识产权代理有限公司 11112
代理人
:
彭瑞欣;张天舒
法律状态
:
公开
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2020-03-20
公开
公开
2020-04-14
实质审查的生效
实质审查的生效 IPC(主分类):H01J 37/32 申请日:20180912
共 50 条
[1]
等离子体刻蚀设备及刻蚀方法
[P].
倪图强
论文数:
0
引用数:
0
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0
倪图强
;
叶如彬
论文数:
0
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0
叶如彬
;
吴世鎭
论文数:
0
引用数:
0
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0
吴世鎭
.
中国专利
:CN103295870B
,2013-09-11
[2]
等离子体刻蚀装置及等离子体刻蚀方法
[P].
刘东升
论文数:
0
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0
刘东升
;
吕煜坤
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吕煜坤
;
朱骏
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0
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0
朱骏
;
张旭升
论文数:
0
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0
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0
张旭升
.
中国专利
:CN105161395A
,2015-12-16
[3]
非等离子体刻蚀方法及刻蚀设备
[P].
王晓娟
论文数:
0
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0
王晓娟
;
郑波
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0
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郑波
;
马振国
论文数:
0
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0
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0
马振国
;
吴鑫
论文数:
0
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0
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吴鑫
;
王春
论文数:
0
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0
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0
王春
;
史晶
论文数:
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0
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史晶
.
中国专利
:CN110718459A
,2020-01-21
[4]
刻蚀方法及等离子体刻蚀装置
[P].
论文数:
引用数:
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机构:
张凯
;
徐伟娜
论文数:
0
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机构:
中微半导体设备(上海)股份有限公司
中微半导体设备(上海)股份有限公司
徐伟娜
;
侯剑秋
论文数:
0
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0
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机构:
中微半导体设备(上海)股份有限公司
中微半导体设备(上海)股份有限公司
侯剑秋
;
吴紫阳
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机构:
中微半导体设备(上海)股份有限公司
中微半导体设备(上海)股份有限公司
吴紫阳
;
张一川
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机构:
中微半导体设备(上海)股份有限公司
中微半导体设备(上海)股份有限公司
张一川
.
中国专利
:CN119340235A
,2025-01-21
[5]
等离子体刻蚀设备及方法
[P].
杨盟
论文数:
0
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0
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0
杨盟
.
中国专利
:CN104616956B
,2015-05-13
[6]
等离子体刻蚀装置及其等离子体刻蚀方法
[P].
周亚勇
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周亚勇
;
罗林
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罗林
;
刘家桦
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0
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刘家桦
.
中国专利
:CN109256316A
,2019-01-22
[7]
等离子体刻蚀装置和等离子体刻蚀方法
[P].
黄啟伟
论文数:
0
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0
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机构:
长江存储科技有限责任公司
长江存储科技有限责任公司
黄啟伟
;
柳波
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机构:
长江存储科技有限责任公司
长江存储科技有限责任公司
柳波
;
高君
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机构:
长江存储科技有限责任公司
长江存储科技有限责任公司
高君
;
张家赫
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机构:
长江存储科技有限责任公司
长江存储科技有限责任公司
张家赫
;
刘彦伟
论文数:
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0
h-index:
0
机构:
长江存储科技有限责任公司
长江存储科技有限责任公司
刘彦伟
.
中国专利
:CN121096838A
,2025-12-09
[8]
等离子体刻蚀装置及栅极的刻蚀方法
[P].
杨盟
论文数:
0
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0
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0
杨盟
.
中国专利
:CN101783281A
,2010-07-21
[9]
等离子体刻蚀方法及等离子体刻蚀后处理方法
[P].
不公告发明人
论文数:
0
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0
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0
不公告发明人
.
中国专利
:CN108493104A
,2018-09-04
[10]
等离子体刻蚀设备
[P].
王晶
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0
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王晶
;
李谦
论文数:
0
引用数:
0
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0
李谦
.
中国专利
:CN202633210U
,2012-12-26
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