一种SIC晶圆CMP抛光用二氧化硅抛光液及其制备方法

被引:0
申请号
CN202211179183.9
申请日
2022-09-27
公开(公告)号
CN115418169A
公开(公告)日
2022-12-02
发明(设计)人
向定艾
申请人
申请人地址
618000 四川省德阳市旌阳区天元镇(景福)秋月村四组6幢
IPC主分类号
C09G102
IPC分类号
H01L2102
代理机构
成都汇浪淘知识产权代理事务所(普通合伙) 51381
代理人
陈莉
法律状态
实质审查的生效
国省代码
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共 50 条
[1]
一种SIC晶圆CMP抛光用氧化铝抛光液及其制备方法 [P]. 
向定艾 .
中国专利 :CN115418170A ,2022-12-02
[2]
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[3]
铜抛光中用的纳米二氧化硅磨料抛光液 [P]. 
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[4]
一种二氧化硅基CMP抛光液及其制备方法 [P]. 
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[5]
微晶玻璃加工用纳米二氧化硅磨料抛光液及其制备方法 [P]. 
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[6]
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石峰 ;
张万里 ;
戴一帆 ;
彭小强 ;
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[7]
一种用于二氧化硅介质的抛光液及其制备方法 [P]. 
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[8]
一种碳化硅晶圆抛光用的抛光液及其制备方法 [P]. 
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[9]
二氧化硅抛光液及其制备方法 [P]. 
苏宏久 ;
王卓杰 ;
李德翔 ;
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[10]
微晶玻璃加工用的纳米二氧化硅磨料抛光液 [P]. 
仲跻和 .
中国专利 :CN101368070A ,2009-02-18