一种半导体晶圆的最终抛光机以及最终抛光及清洗方法

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专利类型
发明
申请号
CN201710639489.0
申请日
2017-07-31
公开(公告)号
CN109318114A
公开(公告)日
2019-02-12
发明(设计)人
赵厚莹
申请人
申请人地址
201306 上海市浦东新区临港新城云水路1000号
IPC主分类号
B24B3704
IPC分类号
B24B3734 B24B2700 H01L2102
代理机构
北京市磐华律师事务所 11336
代理人
高伟;张建
法律状态
发明专利申请公布后的驳回
国省代码
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共 50 条
[1]
一种半导体晶圆最终抛光后的清洗方法 [P]. 
赵厚莹 .
中国专利 :CN109326501A ,2019-02-12
[2]
一种半导体晶圆的最终抛光设备 [P]. 
崔世勋 .
中国专利 :CN213731050U ,2021-07-20
[3]
一种半导体圆晶清洗抛光机 [P]. 
陈希恒 ;
李力游 ;
小约翰·罗伯特·罗兰 .
中国专利 :CN114012569A ,2022-02-08
[4]
一种抛光盘基座、抛光盘、抛光机以及最终抛光方法 [P]. 
刘源 ;
汪燕 .
中国专利 :CN109500716A ,2019-03-22
[5]
一种用于半导体晶圆的CMP抛光机及抛光方法 [P]. 
陶盛 ;
张小春 ;
戴维廷 ;
陆成龙 ;
张银凤 .
中国专利 :CN120307187A ,2025-07-15
[6]
抛光半导体晶圆的方法 [P]. 
C·萨皮尔克 ;
T·耶施克 ;
田畑诚 ;
K·勒特格 .
中国专利 :CN101670546B ,2010-03-17
[7]
半导体晶圆的抛光方法 [P]. 
赵厚莹 .
中国专利 :CN107953225A ,2018-04-24
[8]
用于抛光半导体晶圆的设备 [P]. 
J·弗兰克 ;
L·兰普雷希特 .
中国专利 :CN213438984U ,2021-06-15
[9]
一种半导体晶圆的抛光方法 [P]. 
赵厚莹 ;
李章熙 .
中国专利 :CN107958835A ,2018-04-24
[10]
半导体晶圆的清洗方法、半导体晶圆的制造方法及半导体晶圆 [P]. 
柳井凉一 .
日本专利 :CN120731491A ,2025-09-30