制造金属氧化物半导体元件双层栅极的方法

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN01101277.3
申请日
2001-01-17
公开(公告)号
CN1366332A
公开(公告)日
2002-08-28
发明(设计)人
曾鸿辉
申请人
申请人地址
台湾省新竹科学工业园区
IPC主分类号
H01L2128
IPC分类号
代理机构
北京市柳沈律师事务所
代理人
陶凤波
法律状态
公开
国省代码
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共 50 条
[1]
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