基于红外热成像技术的半导体制冷片检测方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201710501451.7

申请日：

2017-06-27

公开(公告)号：

CN107356343A

公开(公告)日：

2017-11-17

发明(设计)人：

朱向男

申请人：

申请人地址：

066000 河北省秦皇岛市经济技术开发区珠江道20号

IPC主分类号：

G01J520

IPC分类号：

代理机构：

北京冠和权律师事务所 11399

代理人：

朱健;陈国军

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2018-01-19	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01J 5/20 申请日:20170627
2017-11-17	公开	公开
2019-06-28	授权	授权

共 50 条

[1]

半导体制冷片检测设备 [P].

黄其祥 .

中国专利 :CN108325877A ,2018-07-27

[2]

一种半导体制冷片检测装置 [P].

张金良 .

中国专利 :CN216848019U ,2022-06-28

[3]

半导体制冷片与半导体制冷片制作方法 [P].

王旭飞 ;

陆建辉 .

中国专利 :CN118368963A ,2024-07-19

[4]

半导体制冷片 [P].

王春鸣 .

中国专利 :CN302968041S ,2014-10-15

[5]

半导体制冷片 [P].

孙守军 ;

李敏 ;

孙永升 ;

张书锋 ;

成俊亮 .

中国专利 :CN222639031U ,2025-03-18

[6]

半导体制冷片 [P].

赵凤球 .

中国专利 :CN306081472S ,2020-09-29

[7]

半导体制冷片 [P].

李俊俏 ;

李永辉 ;

周维 .

中国专利 :CN212585241U ,2021-02-23

[8]

半导体制冷片 [P].

王小伍 .

中国专利 :CN306910295S ,2021-10-29

[9]

半导体制冷片 [P].

陈国华 .

中国专利 :CN201655855U ,2010-11-24

[10]

半导体制冷片 [P].

罗航宇 .

中国专利 :CN206497902U ,2017-09-15

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