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多晶硅栅极刻蚀方法
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN201210388740.8
申请日
:
2012-10-12
公开(公告)号
:
CN102881578B
公开(公告)日
:
2013-01-16
发明(设计)人
:
唐在峰
方超
吕煜坤
张旭昇
申请人
:
申请人地址
:
201203 上海市浦东新区张江高科技园区高斯路497号
IPC主分类号
:
H01L2128
IPC分类号
:
代理机构
:
上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237
代理人
:
陆花
法律状态
:
实质审查的生效
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2013-02-27
实质审查的生效
实质审查的生效 号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101401527362 IPC(主分类):H01L 21/28 专利申请号:2012103887408 申请日:20121012
2013-01-16
公开
公开
2016-05-04
授权
授权
共 50 条
[1]
多晶硅栅极刻蚀方法
[P].
许进
论文数:
0
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0
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0
机构:
上海华力集成电路制造有限公司
上海华力集成电路制造有限公司
许进
;
唐在峰
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机构:
上海华力集成电路制造有限公司
上海华力集成电路制造有限公司
唐在峰
;
昂开渠
论文数:
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0
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机构:
上海华力集成电路制造有限公司
上海华力集成电路制造有限公司
昂开渠
.
中国专利
:CN119905395A
,2025-04-29
[2]
多晶硅栅极刻蚀工艺
[P].
秦伟
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秦伟
;
高慧慧
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0
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高慧慧
;
杨渝书
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杨渝书
.
中国专利
:CN103646860A
,2014-03-19
[3]
刻蚀沟槽多晶硅栅的方法
[P].
金勤海
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0
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金勤海
;
周颖
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周颖
;
康志潇
论文数:
0
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0
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康志潇
.
中国专利
:CN103094087B
,2013-05-08
[4]
多晶硅栅极结构
[P].
刘继全
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刘继全
;
彭虎
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彭虎
.
中国专利
:CN102376756A
,2012-03-14
[5]
多晶硅栅极掺杂方法
[P].
朱蓓
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朱蓓
;
宁先捷
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宁先捷
.
中国专利
:CN1889236A
,2007-01-03
[6]
一种多晶硅栅极刻蚀的方法
[P].
张海洋
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张海洋
;
杜珊珊
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杜珊珊
;
陈海华
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陈海华
;
马擎天
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0
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0
马擎天
.
中国专利
:CN101442001A
,2009-05-27
[7]
改进离子掺杂多晶硅栅极刻蚀工艺的方法
[P].
束伟夫
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束伟夫
;
唐在峰
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0
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唐在峰
;
方超
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方超
;
任昱
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任昱
;
张旭升
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0
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0
张旭升
.
中国专利
:CN103346075A
,2013-10-09
[8]
一种多晶硅栅极的制造方法及多晶硅栅极
[P].
马万里
论文数:
0
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0
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0
马万里
.
中国专利
:CN107437500B
,2017-12-05
[9]
打开多晶硅栅极的方法
[P].
林宏
论文数:
0
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0
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0
林宏
.
中国专利
:CN103928310B
,2014-07-16
[10]
多晶硅栅极的制造方法
[P].
王卉
论文数:
0
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机构:
华虹半导体(无锡)有限公司
华虹半导体(无锡)有限公司
王卉
;
陈广龙
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机构:
华虹半导体(无锡)有限公司
华虹半导体(无锡)有限公司
陈广龙
;
李志国
论文数:
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机构:
华虹半导体(无锡)有限公司
华虹半导体(无锡)有限公司
李志国
;
曹子贵
论文数:
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机构:
华虹半导体(无锡)有限公司
华虹半导体(无锡)有限公司
曹子贵
.
中国专利
:CN118919405A
,2024-11-08
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