多晶硅栅极刻蚀方法

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN201210388740.8
申请日
2012-10-12
公开(公告)号
CN102881578B
公开(公告)日
2013-01-16
发明(设计)人
唐在峰 方超 吕煜坤 张旭昇
申请人
申请人地址
201203 上海市浦东新区张江高科技园区高斯路497号
IPC主分类号
H01L2128
IPC分类号
代理机构
上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237
代理人
陆花
法律状态
实质审查的生效
国省代码
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共 50 条
[1]
多晶硅栅极刻蚀方法 [P]. 
许进 ;
唐在峰 ;
昂开渠 .
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多晶硅栅极刻蚀工艺 [P]. 
秦伟 ;
高慧慧 ;
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[3]
刻蚀沟槽多晶硅栅的方法 [P]. 
金勤海 ;
周颖 ;
康志潇 .
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[4]
多晶硅栅极结构 [P]. 
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彭虎 .
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[6]
一种多晶硅栅极刻蚀的方法 [P]. 
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[7]
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唐在峰 ;
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[8]
一种多晶硅栅极的制造方法及多晶硅栅极 [P]. 
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[9]
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[10]
多晶硅栅极的制造方法 [P]. 
王卉 ;
陈广龙 ;
李志国 ;
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