光掩模,制造光掩模的方法以及使用其的光刻方法和系统

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN200610092512.0
申请日
2006-06-15
公开(公告)号
CN1881086A
公开(公告)日
2006-12-20
发明(设计)人
许圣民 金熙范 李东根 全爘旭
申请人
申请人地址
韩国京畿道
IPC主分类号
G03F714
IPC分类号
G03F720
代理机构
中原信达知识产权代理有限责任公司
代理人
林宇清;谢丽娜
法律状态
实质审查的生效
国省代码
引用
下载
收藏
共 50 条
[1]
光刻掩模基板,光刻掩模,曝光掩模,光刻掩模基板制造方法,以及半导体装置制造方法 [P]. 
田边胜 ;
川口厚 ;
赤川裕之 ;
河原明宏 .
中国专利 :CN101813883A ,2010-08-25
[2]
光刻掩模基板,光刻掩模,曝光掩模,光刻掩模基板制造方法,以及半导体装置制造方法 [P]. 
田边胜 ;
川口厚 ;
赤川裕之 ;
河原明宏 .
中国专利 :CN1755519B ,2006-04-05
[3]
制备光掩模数据及制造光掩模的方法 [P]. 
余志如 ;
冯妍 ;
张林 ;
彭丹平 .
中国专利 :CN115561962A ,2023-01-03
[4]
光掩模和设计、制作与检查光掩模的方法 [P]. 
杰德·H·兰金 ;
安德鲁·J·沃茨 .
中国专利 :CN101171584B ,2008-04-30
[5]
无掩模版光刻设备和无掩模版光刻的方法 [P]. 
杨保平 .
中国专利 :CN115113491A ,2022-09-27
[6]
用于制造集成电路的光掩模和方法 [P]. 
林俊羽 ;
陈奕杰 ;
邱丰源 ;
郑英周 ;
吕奎亮 ;
张雅惠 ;
刘如淦 ;
高蔡胜 .
中国专利 :CN105988283A ,2016-10-05
[7]
光掩模清洗方法 [P]. 
金正培 .
中国专利 :CN101620372A ,2010-01-06
[8]
光刻光掩模、对准方法和检验对准精确度的方法 [P]. 
范直琛 ;
陈立伟 ;
宋易瑾 ;
王法程 .
中国专利 :CN101713912B ,2010-05-26
[9]
用于无掩模直写光刻的系统和方法 [P]. 
吴政机 ;
杨政宪 ;
王文娟 ;
林世杰 .
中国专利 :CN105809720A ,2016-07-27
[10]
用于DUV光刻的光掩模版结构及其制备方法 [P]. 
季明华 ;
任新平 ;
黄早红 .
中国专利 :CN114895522A ,2022-08-12