一种用于集成电路芯片制造的检测装置

被引：0

申请号：

CN202123089856.5

申请日：

2021-12-10

公开(公告)号：

CN216525513U

公开(公告)日：

2022-05-13

发明(设计)人：

贾苏媛

申请人：

申请人地址：

211161 江苏省南京市雨花台区板桥街道永安社区江谷路2号136

IPC主分类号：

G01N2195

IPC分类号：

G01N2101

代理机构：

武汉领君知识产权代理事务所(普通合伙) 42248

代理人：

程欣

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2022-05-13	授权	授权

共 50 条

[1]

一种集成电路芯片检测装置 [P].

高莎莎 ;

陈绍伟 .

中国专利 :CN213069088U ,2021-04-27

[2]

用于集成电路芯片的检测装置 [P].

张成 ;

姚燕杰 ;

王丽 ;

位贤龙 .

中国专利 :CN113686781A ,2021-11-23

[3]

一种集成电路芯片检测装置 [P].

屠克佳 ;

刘俊南 ;

赵志权 .

中国专利 :CN120847145A ,2025-10-28

[4]

一种集成电路芯片的检测装置 [P].

不公告发明人 .

中国专利 :CN110749757A ,2020-02-04

[5]

一种集成电路芯片的检测装置 [P].

詹安娜 ;

黄巧芳 .

中国专利 :CN221860613U ,2024-10-18

[6]

一种集成电路芯片检测装置 [P].

李风浪 ;

李舒歆 .

中国专利 :CN106226674A ,2016-12-14

[7]

一种集成电路芯片检测装置 [P].

华文强 ;

陈贤槟 ;

马春游 .

中国专利 :CN221387586U ,2024-07-23

[8]

一种集成电路芯片检测装置 [P].

王军 ;

郑浩然 .

中国专利 :CN221595182U ,2024-08-23

[9]

一种集成电路芯片检测装置 [P].

高勇 ;

高小龙 ;

方潮 ;

包基寿 .

中国专利 :CN222482381U ,2025-02-14

[10]

一种集成电路芯片检测装置 [P].

周建军 .

中国专利 :CN117471280A ,2024-01-30

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