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一种低压高密度trench DMOS器件制造方法
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN202010327725.7
申请日
:
2020-04-23
公开(公告)号
:
CN111508830B
公开(公告)日
:
2020-08-07
发明(设计)人
:
廖远宝
洪根深
吴建伟
吴锦波
徐政
徐海铭
申请人
:
申请人地址
:
214000 江苏省无锡市滨湖区惠河路5号
IPC主分类号
:
H01L2128
IPC分类号
:
H01L21336
代理机构
:
无锡派尔特知识产权代理事务所(普通合伙) 32340
代理人
:
杨立秋
法律状态
:
授权
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2022-08-02
授权
授权
2020-09-01
实质审查的生效
实质审查的生效 IPC(主分类):H01L 21/28 申请日:20200423
2020-08-07
公开
公开
共 50 条
[1]
高密度功率器件及其制造方法
[P].
王宇澄
论文数:
0
引用数:
0
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王宇澄
;
宋利军
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宋利军
;
张子敏
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0
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张子敏
.
中国专利
:CN112259600A
,2021-01-22
[2]
高密度功率器件
[P].
王宇澄
论文数:
0
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0
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王宇澄
;
宋利军
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宋利军
;
张子敏
论文数:
0
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0
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张子敏
.
中国专利
:CN213150778U
,2021-05-07
[3]
高密度低压沟槽功率MOS器件
[P].
周祥瑞
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周祥瑞
;
冷德武
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冷德武
;
王毅
论文数:
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0
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王毅
.
中国专利
:CN206250199U
,2017-06-13
[4]
一种带ESD保护结构的trench分离栅DMOS器件制作方法
[P].
廖远宝
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廖远宝
;
洪根深
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洪根深
;
吴建伟
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吴建伟
;
徐政
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徐政
;
吴锦波
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吴锦波
;
徐海铭
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徐海铭
.
中国专利
:CN111490094B
,2020-08-04
[5]
高密度沟槽器件结构及其制造方法
[P].
苏亚兵
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苏亚兵
;
马一洁
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马一洁
;
何鑫鑫
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何鑫鑫
.
中国专利
:CN111769157A
,2020-10-13
[6]
一种降低trench DMOS栅电容的制造方法
[P].
廖远宝
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廖远宝
;
徐政
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徐政
;
吴锦波
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吴锦波
;
徐海铭
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徐海铭
.
中国专利
:CN112071750B
,2020-12-11
[7]
一种Trench MOS器件
[P].
唐呈前
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唐呈前
;
李生龙
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李生龙
;
袁力鹏
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袁力鹏
;
常虹
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常虹
.
中国专利
:CN212587513U
,2021-02-23
[8]
一种Trench MOS器件及制备方法
[P].
唐呈前
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唐呈前
;
李生龙
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0
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李生龙
;
袁力鹏
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袁力鹏
;
常虹
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常虹
.
中国专利
:CN111755526A
,2020-10-09
[9]
高密度DreaMOS器件及其制作方法
[P].
莫海锋
论文数:
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0
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莫海锋
.
中国专利
:CN114649414A
,2022-06-21
[10]
一种低压DMOS器件的形成方法
[P].
王星杰
论文数:
0
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0
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0
机构:
上海华虹宏力半导体制造有限公司
上海华虹宏力半导体制造有限公司
王星杰
.
中国专利
:CN119486172A
,2025-02-18
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