一种射频离子源中和器及离子束溅射沉积和刻蚀设备

被引:0
专利类型
实用新型
申请号
CN202323258136.6
申请日
2023-11-30
公开(公告)号
CN221352705U
公开(公告)日
2024-07-16
发明(设计)人
李正磊 卓永生 杨方宝
申请人
昂成精密仪器(深圳)有限公司
申请人地址
518000 广东省深圳市坪山区龙田街道竹坑社区翠景路35号1栋昂纳集团1号厂房702
IPC主分类号
H01L21/67
IPC分类号
H01J37/32
代理机构
深圳市道臻知识产权代理有限公司 44360
代理人
陈嘉琪
法律状态
授权
国省代码
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共 50 条
[1]
多功能离子束溅射沉积与刻蚀设备 [P]. 
龙世兵 ;
刘明 ;
陈宝钦 ;
谢常青 ;
贾锐 ;
徐连生 .
中国专利 :CN101880863A ,2010-11-10
[2]
一种射频离子源发生装置及离子束刻蚀设备 [P]. 
卓永生 ;
李正磊 ;
刘家湛 .
中国专利 :CN221282032U ,2024-07-05
[3]
一种射频离子源中和器 [P]. 
卢成 ;
王伟 ;
张勇军 ;
张志强 .
中国专利 :CN115472479B ,2025-12-16
[4]
一种射频离子源中和器 [P]. 
卢成 ;
王伟 ;
张勇军 ;
张志强 .
中国专利 :CN115472479A ,2022-12-13
[5]
一种射频离子源中和器的电极 [P]. 
王伟 ;
张勇军 ;
卢成 .
中国专利 :CN216161685U ,2022-04-01
[6]
射频离子源离子束束径约束器及对应的束径控制装置 [P]. 
李晓静 ;
张旭 ;
赵仕燕 ;
夏超翔 ;
张宁 .
中国专利 :CN212322948U ,2021-01-08
[7]
离子源及离子刻蚀设备 [P]. 
唐云俊 ;
王昱翔 ;
周虹玲 ;
周东修 .
中国专利 :CN213184195U ,2021-05-11
[8]
一种离子束溅射沉积薄膜压力传感装置 [P]. 
陆桥宏 ;
曹俊 .
中国专利 :CN216621546U ,2022-05-27
[9]
一种可动多离子源配置的离子束刻蚀机 [P]. 
胡冬冬 ;
李娜 ;
许开东 ;
陈兆超 ;
邱勇 ;
程实然 ;
车东晨 ;
侯永刚 .
中国专利 :CN110571115B ,2019-12-13
[10]
射频离子源系统及离子源设备 [P]. 
刘伟基 ;
冀鸣 ;
赵刚 ;
易洪波 ;
曾文华 ;
刘运鸿 ;
吴秋生 .
中国专利 :CN210866112U ,2020-06-26