一种研磨终点检测系统和检测方法

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202410592399.0
申请日
2024-05-13
公开(公告)号
CN118362509A
公开(公告)日
2024-07-19
发明(设计)人
周庆亚 张为强 李嘉浪 白琨 李坤
申请人
北京晶亦精微科技股份有限公司
申请人地址
100176 北京市大兴区经济技术开发区泰河三街1号2幢2层101
IPC主分类号
G01N21/17
IPC分类号
G01N21/01
代理机构
北京三聚阳光知识产权代理有限公司 11250
代理人
刘贺秋
法律状态
公开
国省代码
安徽省 宣城市
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共 50 条
[1]
终点检测装置和终点检测系统 [P]. 
刘昕 ;
董伯辉 ;
孙启磊 ;
王玉 ;
王立 .
中国专利 :CN211238175U ,2020-08-11
[2]
化学机械研磨及其终点检测方法 [P]. 
李健 .
中国专利 :CN101456151A ,2009-06-17
[3]
光学终点检测系统 [P]. 
巴拉苏布拉马尼恩·拉马钱德雷 ;
石井雅人 ;
阿伦·缪尔·亨特 .
中国专利 :CN103493192A ,2014-01-01
[4]
刻蚀终点检测方法 [P]. 
罗永坚 ;
张颂周 ;
任昱 ;
朱骏 ;
吕煜坤 ;
张旭升 .
中国专利 :CN104392946A ,2015-03-04
[5]
一种光谱检测设备、终点检测系统和方法 [P]. 
伊凡·比久科夫 .
中国专利 :CN112213272B ,2024-01-12
[6]
一种光谱检测设备、终点检测系统和方法 [P]. 
伊凡·比久科夫 .
中国专利 :CN112213272A ,2021-01-12
[7]
语音终点检测装置、系统和方法 [P]. 
李京澈 ;
赵在珉 .
中国专利 :CN109003626A ,2018-12-14
[8]
一种等离子体刻蚀终点检测系统及刻蚀终点检测方法 [P]. 
方铭国 .
中国专利 :CN121215542A ,2025-12-26
[9]
一种等离子体刻蚀终点检测系统及刻蚀终点检测方法 [P]. 
牛夷 ;
姜晶 ;
陈浩林 ;
李璇 ;
李志强 ;
王超 .
中国专利 :CN117451636A ,2024-01-26
[10]
研磨装置和研磨装置的研磨终点检测方法 [P]. 
中村裕贵 ;
铃木佑多 ;
渡边裕辅 ;
松田道昭 ;
山本弘贵 ;
高桥太郎 .
日本专利 :CN117836091A ,2024-04-05