中间掩模检查装置和投影曝光装置

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202410213729.0
申请日
2024-02-27
公开(公告)号
CN119472159A
公开(公告)日
2025-02-18
发明(设计)人
石田肇 中本裕见 田中浩 川久保哲郎 山部耕平 松沢贤司 千叶纯 日吉诚人
申请人
株式会社ORC制作所
申请人地址
日本东京都
IPC主分类号
G03F1/84
IPC分类号
G03F7/20
代理机构
北京三友知识产权代理有限公司 11127
代理人
王璐;杨俊波
法律状态
实质审查的生效
国省代码
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共 50 条
[1]
曝光装置检查用掩模、曝光装置检查方法和曝光装置 [P]. 
福原和也 .
中国专利 :CN1605934A ,2005-04-13
[2]
投影曝光用掩模、投影曝光装置、及投影曝光方法 [P]. 
饭塚和央 ;
磯端纯二 ;
田中信义 .
中国专利 :CN100343759C ,2004-08-11
[3]
投影曝光装置、投影曝光方法以及掩模版 [P]. 
中泽朗 .
中国专利 :CN106483773A ,2017-03-08
[4]
中间掩模透射率测量方法、投影曝光装置及投影曝光方法 [P]. 
村田通博 ;
五味丰 .
中国专利 :CN105511232A ,2016-04-20
[5]
曝光装置的投影光学系统的性能检查方法和检查用光掩模 [P]. 
福原和也 ;
田中聪 ;
井上壮一 .
中国专利 :CN1288508C ,2004-05-05
[6]
曝光装置和光掩模 [P]. 
畑中诚 .
中国专利 :CN102597880A ,2012-07-18
[7]
掩模板温度控制装置和掩模曝光装置 [P]. 
张明辉 ;
周剑锋 ;
郑锋标 ;
张帅 .
中国专利 :CN111948907A ,2020-11-17
[8]
掩模台、掩模台系统和曝光装置 [P]. 
吴韦志 .
中国专利 :CN111694224A ,2020-09-22
[9]
掩模台、掩模台系统和曝光装置 [P]. 
吴韦志 .
中国专利 :CN209433186U ,2019-09-24
[10]
图形轮廓的检查装置和检查方法、曝光装置 [P]. 
宇田满 ;
寺川和成 ;
铃木晃 ;
森田千明 ;
山田靖治 ;
早野辉彦 .
中国专利 :CN100523795C ,2005-03-16