半導体材料を処理するための方法及び光学系[ja]

被引:0
申请号
JP20210566325
申请日
2020-04-28
公开(公告)号
JP7608363B2
公开(公告)日
2025-01-06
发明(设计)人
申请人
申请人地址
IPC主分类号
H01L21/20
IPC分类号
代理机构
代理人
法律状态
国省代码
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共 50 条
[1]
半導体材料を処理するための方法及び光学系[ja] [P]. 
日本专利 :JP2022533566A ,2022-07-25
[2]
基板を処理するための方法[ja] [P]. 
日本专利 :JP2025500621A ,2025-01-09
[3]
半導体材料ウェハを研磨するための方法[ja] [P]. 
日本专利 :JP5853041B2 ,2016-02-09
[4]
[5]
材料構造を改良するための処理[ja] [P]. 
STEVEN C H HUNG ;
JOHANES SWENBERG ;
MALCOLM BEVAN .
日本专利 :JP2025041693A ,2025-03-26
[6]
半導体材料にドープするための方法[ja] [P]. 
日本专利 :JP5833115B2 ,2015-12-16
[7]
[9]
生体材料を保存するための方法[ja] [P]. 
日本专利 :JP2020526225A ,2020-08-31