半导体器件及其形成方法

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202411172219.X
申请日
2024-08-26
公开(公告)号
CN119517754A
公开(公告)日
2025-02-25
发明(设计)人
吴仓聚 林士哲 蔡承竣 巫秉融 柯皓文
申请人
台湾积体电路制造股份有限公司
申请人地址
中国台湾新竹
IPC主分类号
H01L21/50
IPC分类号
H01L21/60 H01L23/48 H01L23/367
代理机构
北京德恒律治知识产权代理有限公司 11409
代理人
章社杲;李伟
法律状态
实质审查的生效
国省代码
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共 50 条
[1]
半导体器件及其形成方法 [P]. 
丁国强 ;
叶松峯 ;
宋大豪 ;
张根育 .
中国专利 :CN119601552A ,2025-03-11
[2]
半导体器件及其形成方法 [P]. 
许家豪 ;
洪建玮 ;
丁国强 ;
叶松峯 .
中国专利 :CN117438420A ,2024-01-23
[3]
半导体器件及其形成方法 [P]. 
王志鸿 ;
陈承先 ;
郭庭豪 ;
赖昱嘉 .
中国专利 :CN118888541A ,2024-11-01
[4]
半导体器件及其形成方法 [P]. 
周孟翰 ;
刘书豪 ;
陈国儒 ;
陈亮吟 ;
张惠政 ;
杨育佳 .
中国专利 :CN113793834A ,2021-12-14
[5]
半导体器件及其形成方法 [P]. 
何柏慷 ;
黄才育 ;
陈建豪 .
中国专利 :CN120936086A ,2025-11-11
[6]
半导体器件及其形成方法 [P]. 
林士尧 ;
吴沛修 ;
王志平 ;
林志翰 ;
林志忠 ;
周昀亭 ;
吴振宇 .
中国专利 :CN113224007A ,2021-08-06
[7]
半导体器件及其形成方法 [P]. 
沙哈吉·B·摩尔 ;
钱德拉谢卡尔·普拉卡斯·萨万特 .
中国专利 :CN113745221A ,2021-12-03
[8]
半导体器件及其形成方法 [P]. 
K·巴拉克里施南 ;
程慷果 ;
P·哈舍米 ;
A·雷兹奈斯克 .
中国专利 :CN106024887A ,2016-10-12
[9]
半导体器件及其形成方法 [P]. 
董雨陇 ;
梁铭彰 ;
陈芳 .
中国专利 :CN109244060A ,2019-01-18
[10]
半导体器件及其形成方法 [P]. 
林孟汉 ;
吴伟成 .
中国专利 :CN110718554B ,2020-01-21