一种基于深度学习的光学元件表面缺陷数据集制作方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202411881174.3

申请日：

2024-12-19

公开(公告)号：

CN119580035A

公开(公告)日：

2025-03-07

发明(设计)人：

杨玥胡小川侯溪李梦凡陈强

申请人：

中国科学院光电技术研究所

申请人地址：

610209 四川省成都市双流350信箱

IPC主分类号：

G06V10/774

IPC分类号：

G06V10/82 G06V10/26 G06V20/70 G06V10/764 G06N3/0464 G06N3/08 G06V10/44 G06N3/084 G06T7/00

代理机构：

北京科迪生专利代理有限责任公司 11251

代理人：

江亚平

法律状态：

公开

国省代码：

北京市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-03-07	公开	公开
2025-03-25	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G06V 10/774申请日:20241219

共 50 条

[1]

一种基于深度学习的光学元件表面缺陷检测方法 [P].

胡小川 ;

全海洋 ;

徐富超 ;

付韬韬 ;

侯溪 ;

李声 .

中国专利 :CN109934811B ,2019-06-25

[2]

一种基于深度学习的光学表面缺陷数据检测方法 [P].

郄军建 ;

李兵 ;

冀永志 ;

张元勇 ;

李星强 .

中国专利 :CN121190433A ,2025-12-23

[3]

一种基于深度学习的PCBA缺陷检测数据集制作方法 [P].

郑俊 ;

杨玉东 ;

杨建辉 ;

姜仲秋 ;

朱晓文 ;

李仁和 ;

林献伟 ;

王洁 ;

王赫鑫 ;

朱晗 ;

姜威 .

中国专利 :CN118918218A ,2024-11-08

[4]

一种基于深度学习的工业自动表面缺陷检测方法 [P].

余建波 ;

程训 .

中国专利 :CN113240665A ,2021-08-10

[5]

一种基于深度学习分割的水果表面缺陷检测方法 [P].

容典 ;

应义斌 ;

饶秀勤 .

中国专利 :CN109377487B ,2019-02-22

[6]

基于深度学习算法的表面缺陷检测方法 [P].

董航程 ;

刘国栋 ;

刘炳国 ;

高卓 ;

黄颖妍 ;

廖敬骁 .

中国专利 :CN115205275B ,2025-05-23

[7]

一种基于深度学习图像处理的堤防表面缺陷检测方法 [P].

牟舵 ;

李远强 ;

宋东东 ;

梁力元 ;

陈基海 ;

邓颖 ;

刘杰寅 ;

李璐旨 ;

李严林 .

中国专利 :CN119919418B ,2025-08-26

[8]

一种基于深度学习图像处理的堤防表面缺陷检测方法 [P].

牟舵 ;

李远强 ;

宋东东 ;

梁力元 ;

陈基海 ;

邓颖 ;

刘杰寅 ;

李璐旨 ;

李严林 .

中国专利 :CN119919418A ,2025-05-02

[9]

一种基于深度学习的带钢表面缺陷检测方法 [P].

张朝晖 ;

马云飞 ;

周丙寅 ;

郭蔚 ;

马韶成 ;

范成龙 ;

史恺伦 .

中国专利 :CN118071703A ,2024-05-24

[10]

基于量子点的光学元件亚表面缺陷深度检测方法 [P].

王春阳 ;

崔亚娜 ;

刘雪莲 ;

田爱玲 ;

王红军 .

中国专利 :CN110879229B ,2020-03-13

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