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一种选择性激活p-GaN栅HEMT器件制造方法
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN202411661696.2
申请日
:
2024-11-20
公开(公告)号
:
CN119789451A
公开(公告)日
:
2025-04-08
发明(设计)人
:
刘志宏
李妍仪
许美
何佳琦
周瑾
邢伟川
张进成
郝跃
申请人
:
西安电子科技大学广州研究院
西安电子科技大学
申请人地址
:
510555 广东省广州市黄埔区中新广州知识城知明路83号
IPC主分类号
:
H10D30/01
IPC分类号
:
H10D30/47
H10D62/10
代理机构
:
北京谦学知识产权代理事务所(普通合伙) 50265
代理人
:
王顺丽
法律状态
:
实质审查的生效
国省代码
:
陕西省 西安市
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2025-04-25
实质审查的生效
实质审查的生效IPC(主分类):H10D 30/01申请日:20241120
2025-04-08
公开
公开
共 50 条
[1]
一种p-GaN混合MIS栅的HEMT器件
[P].
论文数:
引用数:
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机构:
黄义
;
严宏宇
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机构:
重庆邮电大学
重庆邮电大学
严宏宇
;
论文数:
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机构:
高升
;
论文数:
引用数:
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机构:
陈伟中
;
论文数:
引用数:
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机构:
张红升
.
中国专利
:CN120676663A
,2025-09-19
[2]
一种p-GaN HEMT器件及制备方法
[P].
赵宇轩
论文数:
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机构:
TCL环鑫半导体(天津)有限公司
TCL环鑫半导体(天津)有限公司
赵宇轩
;
张敬伟
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机构:
TCL环鑫半导体(天津)有限公司
TCL环鑫半导体(天津)有限公司
张敬伟
;
敖松泉
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机构:
TCL环鑫半导体(天津)有限公司
TCL环鑫半导体(天津)有限公司
敖松泉
;
徐长坡
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机构:
TCL环鑫半导体(天津)有限公司
TCL环鑫半导体(天津)有限公司
徐长坡
;
张新玲
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机构:
TCL环鑫半导体(天津)有限公司
TCL环鑫半导体(天津)有限公司
张新玲
;
程研
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机构:
TCL环鑫半导体(天津)有限公司
TCL环鑫半导体(天津)有限公司
程研
;
刘闯
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机构:
TCL环鑫半导体(天津)有限公司
TCL环鑫半导体(天津)有限公司
刘闯
.
中国专利
:CN119153509B
,2025-03-21
[3]
一种p-GaN HEMT器件及制备方法
[P].
赵宇轩
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机构:
TCL环鑫半导体(天津)有限公司
TCL环鑫半导体(天津)有限公司
赵宇轩
;
张敬伟
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机构:
TCL环鑫半导体(天津)有限公司
TCL环鑫半导体(天津)有限公司
张敬伟
;
敖松泉
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机构:
TCL环鑫半导体(天津)有限公司
TCL环鑫半导体(天津)有限公司
敖松泉
;
徐长坡
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机构:
TCL环鑫半导体(天津)有限公司
TCL环鑫半导体(天津)有限公司
徐长坡
;
张新玲
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机构:
TCL环鑫半导体(天津)有限公司
TCL环鑫半导体(天津)有限公司
张新玲
;
程研
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机构:
TCL环鑫半导体(天津)有限公司
TCL环鑫半导体(天津)有限公司
程研
;
刘闯
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0
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机构:
TCL环鑫半导体(天津)有限公司
TCL环鑫半导体(天津)有限公司
刘闯
.
中国专利
:CN119153509A
,2024-12-17
[4]
p-GaN HEMT器件及其制备方法
[P].
施宜军
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机构:
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
施宜军
;
申志蓬
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机构:
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
申志蓬
;
陈媛
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机构:
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
陈媛
;
何亮
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机构:
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
何亮
;
陈兴欢
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机构:
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
陈兴欢
;
陈义强
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机构:
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
陈义强
;
路国光
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机构:
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
路国光
.
中国专利
:CN121218634A
,2025-12-26
[5]
一种T型P-GaN栅GaN射频HEMT器件及其制备方法
[P].
王仝
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机构:
西安电子科技大学广州研究院
西安电子科技大学广州研究院
王仝
;
何佳琦
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机构:
西安电子科技大学广州研究院
西安电子科技大学广州研究院
何佳琦
;
刘志宏
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机构:
西安电子科技大学广州研究院
西安电子科技大学广州研究院
刘志宏
;
周瑾
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机构:
西安电子科技大学广州研究院
西安电子科技大学广州研究院
周瑾
;
冯欣
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西安电子科技大学广州研究院
西安电子科技大学广州研究院
冯欣
;
杜航海
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机构:
西安电子科技大学广州研究院
西安电子科技大学广州研究院
杜航海
;
张苇杭
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机构:
西安电子科技大学广州研究院
西安电子科技大学广州研究院
张苇杭
;
邢伟川
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机构:
西安电子科技大学广州研究院
西安电子科技大学广州研究院
邢伟川
;
张进成
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机构:
西安电子科技大学广州研究院
西安电子科技大学广州研究院
张进成
;
郝跃
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机构:
西安电子科技大学广州研究院
西安电子科技大学广州研究院
郝跃
.
中国专利
:CN119789465A
,2025-04-08
[6]
一种具有原位阻性钝化层的p-GaN栅HEMT器件
[P].
俞程
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机构:
电子科技大学
电子科技大学
俞程
;
论文数:
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机构:
郑崇芝
;
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机构:
陈万军
;
王茁成
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机构:
电子科技大学
电子科技大学
王茁成
;
论文数:
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机构:
孙瑞泽
.
中国专利
:CN120417431A
,2025-08-01
[7]
一种P-GaN栅增强型GaN+HEMT器件短路保护方法
[P].
周星宇
论文数:
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机构:
红与蓝微电子(上海)有限公司
红与蓝微电子(上海)有限公司
周星宇
;
李全春
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机构:
红与蓝微电子(上海)有限公司
红与蓝微电子(上海)有限公司
李全春
;
钟泽
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机构:
红与蓝微电子(上海)有限公司
红与蓝微电子(上海)有限公司
钟泽
;
何开文
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机构:
红与蓝微电子(上海)有限公司
红与蓝微电子(上海)有限公司
何开文
;
陈波
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机构:
红与蓝微电子(上海)有限公司
红与蓝微电子(上海)有限公司
陈波
.
中国专利
:CN120379293A
,2025-07-25
[8]
降低栅极漏电的p-GaN栅增强型GaN-HEMT器件及其制作方法
[P].
施媛媛
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施媛媛
;
张敏
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张敏
;
倪志龙
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0
倪志龙
;
王彪
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王彪
.
中国专利
:CN113363320A
,2021-09-07
[9]
一种具有分裂耦合栅结构的p-GaN HEMT器件
[P].
论文数:
引用数:
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机构:
高升
;
严宏宇
论文数:
0
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机构:
重庆邮电大学
重庆邮电大学
严宏宇
;
论文数:
引用数:
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机构:
张琳
;
论文数:
引用数:
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机构:
黄义
.
中国专利
:CN119300398A
,2025-01-10
[10]
一种具有雪崩击穿特性的p-GaN栅HEMT器件
[P].
俞程
论文数:
0
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机构:
电子科技大学
电子科技大学
俞程
;
论文数:
引用数:
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机构:
郑崇芝
;
论文数:
引用数:
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机构:
陈万军
;
王茁成
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
电子科技大学
电子科技大学
王茁成
;
论文数:
引用数:
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机构:
孙瑞泽
.
中国专利
:CN120417432A
,2025-08-01
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