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存储器的内建自测试系统
被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN202510220356.4
申请日：
2025-02-26
公开(公告)号：
CN120164513A
公开(公告)日：
2025-06-17
发明(设计)人：
王建群
徐成宇
申请人：
北京时代全芯存储技术股份有限公司
北京时代全芯存储科技有限公司
申请人地址：
100088 北京市海淀区西土城路1号院6号楼4层405
IPC主分类号：
G11C29/12
IPC分类号：
G11C29/44
代理机构：
代理人：
法律状态：
公开
国省代码：
北京市
市辖区
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法律状态
| 法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
| 2025-06-17 | 公开 | 公开 |
| 2025-07-04 | 实质审查的生效 | 实质审查的生效IPC(主分类):G11C 29/12申请日:20250226 |