存储器的内建自测试系统

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202510220356.4

申请日：

2025-02-26

公开(公告)号：

CN120164513A

公开(公告)日：

2025-06-17

发明(设计)人：

王建群徐成宇

申请人：

北京时代全芯存储技术股份有限公司北京时代全芯存储科技有限公司

申请人地址：

100088 北京市海淀区西土城路1号院6号楼4层405

IPC主分类号：

G11C29/12

IPC分类号：

G11C29/44

代理机构：

代理人：

法律状态：

公开

国省代码：

北京市市辖区

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-06-17	公开	公开
2025-07-04	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G11C 29/12申请日:20250226

共 50 条

[41]

一种存储器内建自测试方法、控制器及电路 [P].

龙惠洋 ;

曾波 ;

胡志刚 ;

要志礼 .

中国专利 :CN119993247A ,2025-05-13

[42]

具有用于存储器感测的自动参考微调反馈的存储器内建自测试 [P].

尹钟信 ;

B·纳多-多西 ;

M·凯姆 .

中国专利 :CN115088036A ,2022-09-20

[43]

一种可参数化配置的存储器内建自测试电路 [P].

刘世欢 ;

蔡志匡 ;

王子轩 ;

方玉明 ;

郭宇锋 ;

杨军 .

中国专利 :CN110415751A ,2019-11-05

[44]

具有用于存储器感测的自动参考微调反馈的存储器内建自测试 [P].

尹钟信 ;

B·纳多-多西 ;

M·凯姆 .

美国专利 :CN115088036B ,2025-07-01

[45]

低电压存储器的存储器内建自测试纠错码（MBIST ECC） [P].

D·I·哈纳甘迪 ;

I·阿尔索夫斯基 ;

M·A·齐格霍弗尔 ;

V·H·奇卡诺斯凯 ;

K·R·罗德哈 .

中国专利 :CN111798912A ,2020-10-20

[46]

一种用于MTP存储器的内建自测试系统及方法 [P].

陈楚淮 ;

袁国顺 ;

周浩 .

中国专利 :CN120833836A ,2025-10-24

[47]

具有自动化多步参考微调的存储器内建自测试 [P].

尹钟信 ;

M·凯姆 .

美国专利 :CN115066728B ,2025-06-24

[48]

具有自动化多步参考微调的存储器内建自测试 [P].

尹钟信 ;

M·凯姆 .

中国专利 :CN115066728A ,2022-09-16

[49]

集成有只读存储器的芯片及内建自测试系统及方法 [P].

蔡鸣 ;

付军 .

中国专利 :CN101236790A ,2008-08-06

[50]

内建自测试方法和设备 [P].

孙圆圆 ;

王佳 .

中国专利 :CN117766007A ,2024-03-26

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