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一种用于半导体测试设备的测试头快换对接机构

被引：0
专利类型：
实用新型
申请号：
CN202421841286.1
申请日：
2024-08-01
公开(公告)号：
CN222994530U
公开(公告)日：
2025-06-17
发明(设计)人：
文汉林
申请人：
锐思特电子科技（苏州）有限公司
申请人地址：
215000 江苏省苏州市工业园区金鸡湖大道99号苏州纳米城中北区23幢214室
IPC主分类号：
G01R1/04
IPC分类号：
G01R31/28
代理机构：
代理人：
法律状态：
授权
国省代码：
江苏省 苏州市
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法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2025-06-17 授权 授权
共 50 条
[1]
测试治具快换对接机构及测试设备 [P]. 
高朋 ;
赵同志 .
中国专利 :CN222189334U ,2024-12-17
[2]
一种用于半导体测试设备机架 [P]. 
刘海 ;
张传青 ;
钱业伟 .
中国专利 :CN223426706U ,2025-10-10
[3]
一种半导体测试设备的上料机构 [P]. 
王浩酽 ;
冯凯 ;
杨焱武 ;
刘东东 .
中国专利 :CN220641658U ,2024-03-22
[4]
一种半导体测试设备 [P]. 
姚俊俊 ;
沈思情 ;
姚钉丁 ;
张俊宝 ;
陈猛 .
中国专利 :CN209156455U ,2019-07-26
[5]
一种半导体测试设备 [P]. 
李强 ;
李彦锋 ;
余文武 .
中国专利 :CN220752163U ,2024-04-09
[6]
一种半导体测试设备 [P]. 
颜伟雄 .
中国专利 :CN214122390U ,2021-09-03
[7]
一种半导体测试设备 [P]. 
焦宗凯 .
中国专利 :CN215813172U ,2022-02-11
[8]
一种半导体测试设备 [P]. 
江俊 .
中国专利 :CN210513571U ,2020-05-12
[9]
一种用于晶圆测试的夹具及半导体测试设备 [P]. 
张爱林 .
中国专利 :CN223107855U ,2025-07-15
[10]
一种带有智能测试单元的半导体测试设备 [P]. 
邓明伟 .
中国专利 :CN214795084U ,2021-11-19
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