PROPERTIES OF THIN LPCVD SILICON OXYNITRIDE FILMS

被引:23
作者
PAN, P
ABERNATHEY, J
SCHAEFER, C
机构
[1] IBM, General Technology Div, Essex, Junction, VT, USA, IBM, General Technology Div, Essex Junction, VT, USA
关键词
D O I
10.1007/BF02654028
中图分类号
TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];
学科分类号
0808 ; 0809 ;
摘要
FILMS
引用
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页码:617 / 632
页数:16
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